توضیحات
‘X-ray diffraction is a useful and powerful analysis technique for characterizing crystalline materials commonly employed in MSE, physics, and chemistry. This informative new book describes the principles of X-ray diffraction and its applications to materials characterization. It consists of three parts. The first deals with elementary crystallography and optics, which is essential for understanding the theory of X-ray diffraction discussed in the second section of the book. Part 3 describes how the X-ray diffraction can be applied for characterizing such various forms of materials as thin films, single crystals, and powders. The book presents a number of examples to help readers better comprehend the subject. X-Ray Diffraction: From Fundamentals to Applications also provides background knowledge of diffraction to enable nonspecialists to become familiar with the topics; covers the practical applications as well as the underlying principle of X-ray diffraction; presents appropriate examples with answers to help readers understand the contents more easily; includes thin film characterization by X-ray diffraction with relevant experimental techniques; presents a huge number of elaborately drawn graphics to help illustrate the content. The book will help readers (students and researchers in materials science, physics, and chemistry) understand crystallography and crystal structures, interference and diffraction, structural analysis of bulk materials, characterization of thin films, and nondestructive measurement of internal stress and phase transition. Diffraction is an optical phenomenon and thus can be better understood when it is explained with an optical approach, which has been neglected in other books. This book helps to fill that gap, providing information to convey the concept of X-ray diffraction and how it can be applied to the materials analysis. This book will be a valuable reference book for researchers in the field and will work well as a good introductory book of X-ray diffraction for students in materials science, physics, and chemistry.’– Read more…
Abstract: ‘X-ray diffraction is a useful and powerful analysis technique for characterizing crystalline materials commonly employed in MSE, physics, and chemistry. This informative new book describes the principles of X-ray diffraction and its applications to materials characterization. It consists of three parts. The first deals with elementary crystallography and optics, which is essential for understanding the theory of X-ray diffraction discussed in the second section of the book. Part 3 describes how the X-ray diffraction can be applied for characterizing such various forms of materials as thin films, single crystals, and powders. The book presents a number of examples to help readers better comprehend the subject. X-Ray Diffraction: From Fundamentals to Applications also provides background knowledge of diffraction to enable nonspecialists to become familiar with the topics; covers the practical applications as well as the underlying principle of X-ray diffraction; presents appropriate examples with answers to help readers understand the contents more easily; includes thin film characterization by X-ray diffraction with relevant experimental techniques; presents a huge number of elaborately drawn graphics to help illustrate the content. The book will help readers (students and researchers in materials science, physics, and chemistry) understand crystallography and crystal structures, interference and diffraction, structural analysis of bulk materials, characterization of thin films, and nondestructive measurement of internal stress and phase transition. Diffraction is an optical phenomenon and thus can be better understood when it is explained with an optical approach, which has been neglected in other books. This book helps to fill that gap, providing information to convey the concept of X-ray diffraction and how it can be applied to the materials analysis. This book will be a valuable reference book for researchers in the field and will work well as a good introductory book of X-ray diffraction for students in materials science, physics, and chemistry.’
پراش اشعه ایکس یک تکنیک تجزیه و تحلیل مفید و قدرتمند برای مشخص کردن مواد کریستالی است که معمولاً در MSE، فیزیک و شیمی استفاده می شود. این کتاب جدید آموزنده، اصول پراش اشعه ایکس و کاربردهای آن در تعیین مشخصات مواد را تشریح می کند. این متشکل از سه قسمت است. اولی به کریستالوگرافی ابتدایی و اپتیک می پردازد که برای درک تئوری پراش اشعه ایکس که در بخش دوم کتاب مورد بحث قرار گرفت، ضروری است. بخش 3 توضیح می دهد که چگونه پراش اشعه ایکس می تواند برای مشخص کردن اشکال مختلف مواد مانند لایه های نازک، تک بلورها و پودرها به کار رود. در این کتاب چندین مثال برای درک بهتر موضوع به خوانندگان ارائه شده است. پراش اشعه ایکس: از مبانی تا کاربردها همچنین دانش پس زمینه پراش را فراهم می کند تا افراد غیرمتخصص را قادر می سازد تا با موضوعات آشنا شوند. کاربردهای عملی و همچنین اصل اساسی پراش اشعه ایکس را پوشش می دهد. مثال های مناسب همراه با پاسخ ارائه می کند تا به خوانندگان کمک کند مطالب را راحت تر درک کنند. شامل مشخصات فیلم نازک توسط پراش اشعه ایکس با تکنیک های تجربی مربوطه. تعداد زیادی از گرافیک های استادانه ترسیم شده را برای کمک به نشان دادن محتوا ارائه می دهد. این کتاب به خوانندگان (دانشجویان و محققان در علم مواد، فیزیک و شیمی) کمک می کند تا کریستالوگرافی و ساختارهای بلوری، تداخل و پراش، تجزیه و تحلیل ساختاری مواد حجیم، خصوصیات لایه های نازک و اندازه گیری غیرمخرب تنش داخلی و انتقال فاز را درک کنند. پراش یک پدیده نوری است و بنابراین وقتی با رویکرد نوری توضیح داده شود، که در کتاب های دیگر از آن غفلت شده است، می توان آن را بهتر درک کرد. این کتاب به پر کردن این شکاف کمک می کند و اطلاعاتی را برای انتقال مفهوم پراش اشعه ایکس و نحوه اعمال آن در تجزیه و تحلیل مواد ارائه می دهد. این کتاب یک کتاب مرجع ارزشمند برای محققان در این زمینه خواهد بود و به عنوان یک کتاب مقدماتی پراش پرتو ایکس برای دانشآموزان علوم مواد، فیزیک و شیمی به خوبی کار خواهد کرد.’– ادامه مطلب…
دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.