دانلود کتاب Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations – مبانی میکروسکوپ نیروی اتمی: بخش اول: مبانی

دسته بندی :
اطلاعات کتاب
  • جلد
  • سری Lessons from Nanoscience: A Lecture Notes Vol. 4
  • ویرایش
  • سال 2016
  • نویسنده (گان) Ronald Reifenberger
  • ناشر World Scientific Publishing Co
  • زبان English
  • تعداد صفحات 341
  • حجم فایل 13.27MB
  • فرمت فایل pdf
  • شابک 9814630349, 9789814630344
قیمت محصول :

۴۵,۰۰۰ تومان

با خرید این محصول، ۲,۲۵۰ تومان به کیف پول شما بازگشت داده می‌شود

روند خرید و دریافت کتاب‌ها بدون هیچ اختلالی انجام می‌شود.
تمامی فایل‌ها بر روی سرورهای داخلی میزبانی می‌شوند تا بتوانید به راحتی و در لحظه آن‌ها را دانلود کنید. در صورت بروز هرگونه مشکل یا نیاز به راهنمایی، لطفاً از طریق « صفحه تماس باما» با تیم پشتیبانی در ارتباط باشید.

تمامی کتاب های موجود در وبسایت سای وان به زبان انگلیسی میباشد

توضیحات

The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution. The intelligent use of this instrument requires knowledge from many distinct fields of study. These lecture notes aim to provide advanced undergraduates and beginning graduates in all fields of science and engineering with the required knowledge to sensibly use an AFM. Relevant background material is often reviewed in depth and summarized in a pedagogical, self-paced style to provide a fundamental understanding of the scientific principles underlying the use and operation of an AFM.

Useful as a study guide to Fundamentals of AFM. This title is also suitable for Graduate/Undergraduate Independent Reading and Research Course in AFM (with the combination of book and online videos)

Readership: Advanced undergraduates and graduates in physics, chemistry, materials science and engineering disciplines with an interest in Atomic Force Microscopy and its applications in nanotechnology.

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار بسیار بین رشته ای است که اندازه گیری نمونه ها را در مایع، خلاء یا هوا با وضوح بی سابقه ای امکان پذیر می کند. استفاده هوشمندانه از این ابزار مستلزم دانش بسیاری از زمینه های تحصیلی متمایز است. هدف این یادداشت های سخنرانی ارائه دانش لازم برای استفاده معقول از AFM برای دانشجویان پیشرفته و فارغ التحصیلان مبتدی در تمام زمینه های علوم و مهندسی است. مطالب پس زمینه مرتبط اغلب عمیقاً بررسی می شود و به سبک آموزشی و خود گامی خلاصه می شود تا درک اساسی از اصول علمی زیربنای استفاده و عملکرد AFM ارائه شود.

به عنوان یک راهنمای مطالعه برای اصول اولیه مفید است. AFM. این عنوان همچنین برای دوره کارشناسی ارشد/لیسانسی مستقل خواندن و تحقیق در AFM (با ترکیب کتاب و ویدیوهای آنلاین) مناسب است

تعداد خوانندگان: دانش آموختگان پیشرفته و فارغ التحصیلان فیزیک، شیمی، علوم مواد و رشته های مهندسی با علاقه به میکروسکوپ نیروی اتمی و کاربردهای آن در فناوری نانو


 

tag : دانلود کتاب مبانی میکروسکوپ نیروی اتمی: بخش اول: مبانی , Download مبانی میکروسکوپ نیروی اتمی: بخش اول: مبانی , دانلود مبانی میکروسکوپ نیروی اتمی: بخش اول: مبانی , Download Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations Book , مبانی میکروسکوپ نیروی اتمی: بخش اول: مبانی دانلود , buy مبانی میکروسکوپ نیروی اتمی: بخش اول: مبانی , خرید کتاب مبانی میکروسکوپ نیروی اتمی: بخش اول: مبانی , دانلود کتاب Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations , کتاب Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations , دانلود Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations , خرید Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations , خرید کتاب Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations ,

دیدگاهها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین نفری باشید که دیدگاهی را ارسال می کنید برای “دانلود کتاب Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations – مبانی میکروسکوپ نیروی اتمی: بخش اول: مبانی”