توضیحات
This book provides readers with a detailed reference regarding two of the most important long-term reliability and aging effects on nanometer integrated systems, electromigrations (EM) for interconnect and biased temperature instability (BTI) for CMOS devices. The authors discuss in detail recent developments in the modeling, analysis and optimization of the reliability effects from EM and BTI induced failures at the circuit, architecture and system levels of abstraction. Readers will benefit from a focus on topics such as recently developed, physics-based EM modeling, EM modeling for multi-segment wires, new EM-aware power grid analysis, and system level EM-induced reliability optimization and management techniques.
- Reviews classic Electromigration (EM) models, as well as existing EM failure models and discusses the limitations of those models;
- Introduces a dynamic EM model to address transient stress evolution, in which wires are stressed under time-varying current flows, and the EM recovery effects. Also includes new, parameterized equivalent DC current based EM models to address the recovery and transient effects;
- Presents a cross-layer approach to transistor aging modeling, analysis and mitigation, spanning multiple abstraction levels;
- Equips readers for EM-induced dynamic reliability management and energy or lifetime optimization techniques, for many-core dark silicon microprocessors, embedded systems, lower power many-core processors and datacenters.
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
این کتاب به خوانندگان یک مرجع مفصل در مورد دو مورد از مهمترین قابلیت اطمینان طولانی مدت و اثرات پیری بر روی سیستم های یکپارچه نانومتر ، الکترومیف (EM) برای عدم ارتباط و بی ثباتی دما (BTI) برای دستگاه های CMOS ارائه می دهد. نویسندگان به تفصیل در مورد تحولات اخیر در مدل سازی ، تجزیه و تحلیل و بهینه سازی اثرات قابلیت اطمینان ناشی از خرابی های EM و BTI در مدار ، معماری و سطح سیستم انتزاع بحث می کنند. خوانندگان از تمرکز بر مباحثی مانند اخیراً توسعه یافته ، مدل سازی EM مبتنی بر فیزیک ، مدل سازی EM برای سیم های چند بخش ، تجزیه و تحلیل شبکه برق جدید EM-Aware و تکنیک های بهینه سازی و مدیریت سطح سیستم ناشی از EM بهره مند می شوند.
- مدل های الکترومغناطیسی کلاسیک (EM) ، و همچنین مدل های نارسایی EM موجود را بررسی می کند و در مورد محدودیت های آن مدل ها بحث می کند ؛
- یک مدل EM پویا را برای پرداختن به تکامل استرس گذرا معرفی می کند ، که در آن سیم ها تحت جریان جریان متغیر زمان و اثرات بازیابی EM استرس دارند. همچنین شامل مدلهای EM مبتنی بر جریان جدید و معادل DC برای پرداختن به بازیابی و اثرات گذرا است ؛
- یک رویکرد لایه ای متقاطع برای مدل سازی پیری ترانزیستور ، تجزیه و تحلیل و کاهش ، ارائه می دهد و چندین سطح انتزاع را شامل می شود ؛
- خوانندگان را برای مدیریت قابلیت اطمینان پویا ناشی از EM و تکنیک های بهینه سازی انرژی و یا بهینه سازی طول عمر ، برای میکروپروسسرهای سیلیکون تیره هسته ای ، سیستم های تعبیه شده ، پردازنده های کمتری با قدرت پایین و دیتاسنترها مجهز می کند.
tag : دانلود کتاب قابلیت اطمینان طولانی مدت سیستم های VLSI نانومتر: مدل سازی ، تجزیه و تحلیل و بهینه سازی , Download قابلیت اطمینان طولانی مدت سیستم های VLSI نانومتر: مدل سازی ، تجزیه و تحلیل و بهینه سازی , دانلود قابلیت اطمینان طولانی مدت سیستم های VLSI نانومتر: مدل سازی ، تجزیه و تحلیل و بهینه سازی , Download Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization Book , قابلیت اطمینان طولانی مدت سیستم های VLSI نانومتر: مدل سازی ، تجزیه و تحلیل و بهینه سازی دانلود , buy قابلیت اطمینان طولانی مدت سیستم های VLSI نانومتر: مدل سازی ، تجزیه و تحلیل و بهینه سازی , خرید کتاب قابلیت اطمینان طولانی مدت سیستم های VLSI نانومتر: مدل سازی ، تجزیه و تحلیل و بهینه سازی , دانلود کتاب Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization , کتاب Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization , دانلود Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization , خرید Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization , خرید کتاب Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization ,
دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.