دانلود کتاب International Workshop on Memory Technology, Design and Testing proceedings – کارگاه بین المللی فناوری حافظه، طراحی و مراحل آزمایش

دسته بندی :
اطلاعات کتاب
  • جلد
  • سری
  • ویرایش
  • سال 2010
  • نویسنده (گان) International Workshop on Memory Technology, Design and Testing proceedings
  • ناشر IEEE
  • زبان English
  • تعداد صفحات
  • حجم فایل 3.24MB
  • فرمت فایل djvu
  • شابک 9780818681011
قیمت محصول :

45,000 تومان

با خرید این محصول، 2,250 تومان به کیف پول شما بازگشت داده می‌شود

روند خرید و دریافت کتاب‌ها بدون هیچ اختلالی انجام می‌شود.
تمامی فایل‌ها بر روی سرورهای داخلی میزبانی می‌شوند تا بتوانید به راحتی و در لحظه آن‌ها را دانلود کنید. در صورت بروز هرگونه مشکل یا نیاز به راهنمایی، لطفاً از طریق « صفحه تماس باما» با تیم پشتیبانی در ارتباط باشید.

تمامی کتاب های موجود در وبسایت سای وان به زبان انگلیسی میباشد
در صورتی که فرمت کتاب دریافتی mobi، azw3 ، epub یا djvu می باشد، جهت راهنمای مطالعه اینجا کلیک کنید.

توضیحات

N

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

N

 

tag : دانلود کتاب کارگاه بین المللی فناوری حافظه، طراحی و مراحل آزمایش , Download کارگاه بین المللی فناوری حافظه، طراحی و مراحل آزمایش , دانلود کارگاه بین المللی فناوری حافظه، طراحی و مراحل آزمایش , Download International Workshop on Memory Technology, Design and Testing proceedings Book , کارگاه بین المللی فناوری حافظه، طراحی و مراحل آزمایش دانلود , buy کارگاه بین المللی فناوری حافظه، طراحی و مراحل آزمایش , خرید کتاب کارگاه بین المللی فناوری حافظه، طراحی و مراحل آزمایش , دانلود کتاب International Workshop on Memory Technology, Design and Testing proceedings , کتاب International Workshop on Memory Technology, Design and Testing proceedings , دانلود International Workshop on Memory Technology, Design and Testing proceedings , خرید International Workshop on Memory Technology, Design and Testing proceedings , خرید کتاب International Workshop on Memory Technology, Design and Testing proceedings ,

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “دانلود کتاب International Workshop on Memory Technology, Design and Testing proceedings – کارگاه بین المللی فناوری حافظه، طراحی و مراحل آزمایش”