توضیحات
This book is motivated by the challenges faced in designing reliable integratedsystems using modern VLSI processes. The reliable operation of Integrated Circuits (ICs) has become increasingly difficult to achieve in the deep sub-micron (DSM) era. With continuously decreasing device feature sizes, combined with lower supply voltages and higher operating frequencies, the noise immunity of VLSI circuits is decreasing alarmingly. Thus, VLSI circuits are becoming more vulnerable to noise effects such as crosstalk, power supply variations and radiation-induced soft errors.
This book describes the design of resilient VLSI circuits. It presents algorithms to analyze the detrimental effects of radiation particle strikes and processing variations on the electrical behavior of VLSI circuits, as well as circuit design techniques to mitigate the impact of these problems.
- Describes the state of the art in the areas of radiation tolerant circuit design and process variation tolerant circuit design;
- Presents analytical approaches to test efficiently the severity of electrical effects of radiation/process variations, as well as techniques to minimize the effects due to these two problems;
- Distills content oriented toward nuclear engineers into leading-edge algorithms and techniques that can be understood easily and applied by VLSI designers.
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
این کتاب با انگیزه چالشهایی است که در طراحی سیستمهای یکپارچه قابل اعتماد با استفاده از فرآیندهای مدرن VLSI وجود دارد. دستیابی به عملکرد قابل اعتماد مدارهای مجتمع (IC) در عصر زیر میکرون عمیق (DSM) به طور فزاینده ای دشوار شده است. با کاهش مداوم اندازه ویژگی های دستگاه، همراه با ولتاژهای تغذیه کمتر و فرکانس های عملیاتی بالاتر، ایمنی مدارهای VLSI نسبت به نویز ب
tag : دانلود کتاب تجزیه و تحلیل و طراحی مدارهای VLSI انعطاف پذیر: کاهش خطاهای نرم و تغییرات فرآیند , Download تجزیه و تحلیل و طراحی مدارهای VLSI انعطاف پذیر: کاهش خطاهای نرم و تغییرات فرآیند , دانلود تجزیه و تحلیل و طراحی مدارهای VLSI انعطاف پذیر: کاهش خطاهای نرم و تغییرات فرآیند , Download Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations Book , تجزیه و تحلیل و طراحی مدارهای VLSI انعطاف پذیر: کاهش خطاهای نرم و تغییرات فرآیند دانلود , buy تجزیه و تحلیل و طراحی مدارهای VLSI انعطاف پذیر: کاهش خطاهای نرم و تغییرات فرآیند , خرید کتاب تجزیه و تحلیل و طراحی مدارهای VLSI انعطاف پذیر: کاهش خطاهای نرم و تغییرات فرآیند , دانلود کتاب Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations , کتاب Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations , دانلود Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations , خرید Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations , خرید کتاب Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations ,
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.