دانلود کتاب Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip – پشتیبانی از یادگیری ماشین برای تشخیص عیب سیستم روی تراشه

دسته بندی :
اطلاعات کتاب
  • جلد
  • سری
  • ویرایش
  • سال 2023
  • نویسنده (گان) Patrick Girard , Shawn Blanton, Li-C. Wang
  • ناشر Springer
  • زبان English
  • تعداد صفحات
  • حجم فایل 10.32MB
  • فرمت فایل pdf
  • شابک 3031196384, 9783031196386
قیمت محصول :

۴۵,۰۰۰ تومان

با خرید این محصول، ۲,۲۵۰ تومان به کیف پول شما بازگشت داده می‌شود

روند خرید و دریافت کتاب‌ها بدون هیچ اختلالی انجام می‌شود.
تمامی فایل‌ها بر روی سرورهای داخلی میزبانی می‌شوند تا بتوانید به راحتی و در لحظه آن‌ها را دانلود کنید. در صورت بروز هرگونه مشکل یا نیاز به راهنمایی، لطفاً از طریق « صفحه تماس باما» با تیم پشتیبانی در ارتباط باشید.

تمامی کتاب های موجود در وبسایت سای وان به زبان انگلیسی میباشد

توضیحات

This book provides a state-of-the-art guide to Machine Learning (ML)-based techniques that have been shown to be highly efficient for diagnosis of failures in electronic circuits and systems. The methods discussed can be used for volume diagnosis after manufacturing or for diagnosis of customer returns. Readers will be enabled to deal with huge amount of insightful test data that cannot be exploited otherwise in an efficient, timely manner. After some background on fault diagnosis and machine learning, the authors explain and apply optimized techniques from the ML domain to solve the fault diagnosis problem in the realm of electronic system design and manufacturing. These techniques can be used for failure isolation in logic or analog circuits, board-level fault diagnosis, or even wafer-level failure cluster identification. Evaluation metrics as well as industrial case studies are used to emphasize the usefulness and benefits of using ML-based diagnosis techniques.

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

این کتاب راهنمای پیشرفته‌ای برای تکنیک‌های مبتنی بر یادگیری ماشین (ML) ارائه می‌کند که نشان داده شده است برای تشخیص خرابی‌ها در مدارها و سیستم‌های الکترونیکی بسیار کارآمد هستند. روش های مورد بحث را می توان برای تشخیص حجم پس از ساخت یا برای تشخیص بازگشت مشتری استفاده کرد. خوانندگان این امکان را خواهند داشت که با حجم عظیمی از داده‌های آزمایشی روشنگری که در غیر این صورت نمی‌توان به‌موقع و کارآمد از آنها بهره‌برداری کرد. پس از مدتی پیشینه در مورد تشخیص عیب و یادگیری ماشین، نویسندگان تکنیک‌های بهینه‌سازی شده از حوزه ML را برای حل مشکل تشخیص عیب در حوزه طراحی و ساخت سیستم الکترونیکی توضیح داده و به کار می‌برند. این تکنیک ها را می توان برای جداسازی شکست در مدارهای منطقی یا آنالوگ، تشخیص خطا در سطح برد یا حتی شناسایی خوشه خرابی در سطح ویفر استفاده کرد. معیارهای ارزیابی و همچنین مطالعات موردی صنعتی برای تأکید بر سودمندی و مزایای استفاده از تکنیک‌های تشخیص مبتنی بر ML استفاده می‌شوند.


 

tag : دانلود کتاب پشتیبانی از یادگیری ماشین برای تشخیص عیب سیستم روی تراشه , Download پشتیبانی از یادگیری ماشین برای تشخیص عیب سیستم روی تراشه , دانلود پشتیبانی از یادگیری ماشین برای تشخیص عیب سیستم روی تراشه , Download Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip Book , پشتیبانی از یادگیری ماشین برای تشخیص عیب سیستم روی تراشه دانلود , buy پشتیبانی از یادگیری ماشین برای تشخیص عیب سیستم روی تراشه , خرید کتاب پشتیبانی از یادگیری ماشین برای تشخیص عیب سیستم روی تراشه , دانلود کتاب Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip , کتاب Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip , دانلود Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip , خرید Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip , خرید کتاب Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip ,

دیدگاهها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین نفری باشید که دیدگاهی را ارسال می کنید برای “دانلود کتاب Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip – پشتیبانی از یادگیری ماشین برای تشخیص عیب سیستم روی تراشه”