دانلود کتاب X-Ray Scattering from Semiconductors and Other Materials: 3rd Edition – پراکندگی اشعه ایکس از نیمه هادی ها و مواد دیگر: ویرایش سوم

دسته بندی :
اطلاعات کتاب
  • جلد
  • سری
  • ویرایش 3
  • سال 2015
  • نویسنده (گان) Paul F Fewster
  • ناشر WSPC
  • زبان English
  • تعداد صفحات
  • حجم فایل 15.26MB
  • فرمت فایل pdf
  • شابک 9814436925, 9789814436922
قیمت محصول :

45,000 تومان

با خرید این محصول، 2,250 تومان به کیف پول شما بازگشت داده می‌شود

روند خرید و دریافت کتاب‌ها بدون هیچ اختلالی انجام می‌شود.
تمامی فایل‌ها بر روی سرورهای داخلی میزبانی می‌شوند تا بتوانید به راحتی و در لحظه آن‌ها را دانلود کنید. در صورت بروز هرگونه مشکل یا نیاز به راهنمایی، لطفاً از طریق « صفحه تماس باما» با تیم پشتیبانی در ارتباط باشید.

تمامی کتاب های موجود در وبسایت سای وان به زبان انگلیسی میباشد

توضیحات

This third edition has been extended considerably to incorporate more information on instrument influences on the interpretation of X-ray scattering profiles and reciprocal space maps. Another significant inclusion is on the scattering from powder samples, covering a new theoretical approach that explains features that conventional theory cannot. The new edition includes some of the latest methodologies and theoretical treatments, including the latest thinking on dynamical theory and diffuse scattering. Recent advances in detectors also present new opportunities for rapid data collection and some very different approaches in data collection techniques; the possibilities associated with these advances will be included.

This edition should be of interest to those who use X-ray scattering to understand more about their samples, so that they can make a better judgment of the parameter and confidence levels in their analyses, and how the combination of instrument, sample and detection should be considered as a whole to ensure this.

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

این نسخه سوم به طور قابل توجهی گسترش یافته است تا اطلاعات بیشتری در مورد تأثیرات ابزار در تفسیر پروفایل های پراکندگی پرتو ایکس و نقشه های فضایی متقابل گنجانده شود. یکی دیگر از موارد مهم در مورد پراکندگی نمونه‌های پودری است که رویکرد نظری جدیدی را پوشش می‌دهد که ویژگی‌هایی را توضیح می‌دهد که نظریه متعارف نمی‌تواند. ویرایش جدید شامل برخی از جدیدترین روش‌ها و درمان‌های نظری، از جمله آخرین تفکر در نظریه دینامیکی و پراکندگی پراکنده است. پیشرفت‌های اخیر در آشکارسازها همچنین فرصت‌های جدیدی را برای جمع‌آوری سریع داده‌ها و برخی رویکردهای بسیار متفاوت در تکنیک‌های جمع‌آوری داده‌ها ارائه می‌دهد. احتمالات مرتبط با این پیشرفت ها گنجانده خواهد شد.

این نسخه باید برای کسانی که از پراکندگی اشعه ایکس برای درک بیشتر نمونه های خود استفاده می کنند، جالب باشد تا بتوانند قضاوت بهتری در مورد پارامتر و پارامتر داشته باشند. سطوح اطمینان در تجزیه و تحلیل آنها، و اینکه چگونه ترکیب ابزار، نمونه و تشخیص باید به عنوان یک کل در نظر گرفته شود تا اطمینان حاصل شود.


 

tag : دانلود کتاب پراکندگی اشعه ایکس از نیمه هادی ها و مواد دیگر: ویرایش سوم , Download پراکندگی اشعه ایکس از نیمه هادی ها و مواد دیگر: ویرایش سوم , دانلود پراکندگی اشعه ایکس از نیمه هادی ها و مواد دیگر: ویرایش سوم , Download X-Ray Scattering from Semiconductors and Other Materials: 3rd Edition Book , پراکندگی اشعه ایکس از نیمه هادی ها و مواد دیگر: ویرایش سوم دانلود , buy پراکندگی اشعه ایکس از نیمه هادی ها و مواد دیگر: ویرایش سوم , خرید کتاب پراکندگی اشعه ایکس از نیمه هادی ها و مواد دیگر: ویرایش سوم , دانلود کتاب X-Ray Scattering from Semiconductors and Other Materials: 3rd Edition , کتاب X-Ray Scattering from Semiconductors and Other Materials: 3rd Edition , دانلود X-Ray Scattering from Semiconductors and Other Materials: 3rd Edition , خرید X-Ray Scattering from Semiconductors and Other Materials: 3rd Edition , خرید کتاب X-Ray Scattering from Semiconductors and Other Materials: 3rd Edition ,

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “دانلود کتاب X-Ray Scattering from Semiconductors and Other Materials: 3rd Edition – پراکندگی اشعه ایکس از نیمه هادی ها و مواد دیگر: ویرایش سوم”