توضیحات
Identifying and measuring the elemental x-rays released when materials are examined with particles (electrons, protons, alpha particles, etc.) or photons (x-rays and gamma rays) is still considered to be the primary analytical technique for routine and non-destructive materials analysis. The Lithium Drifted Silicon (Si(Li)) X-Ray Detector, with its good resolution and peak to background, pioneered this type of analysis on electron microscopes, x-ray fluorescence instruments, and radioactive source- and accelerator-based excitation systems. Although rapid progress in Silicon Drift Detectors (SDDs), Charge Coupled Devices (CCDs), and Compound Semiconductor Detectors, including renewed interest in alternative materials such as CdZnTe and diamond, has made the Si(Li) X-Ray Detector nearly obsolete, the device serves as a useful benchmark and still is used in special instances where its large, sensitive depth is essential.
Semiconductor X-Ray Detectors focuses on the history and development of Si(Li) X-Ray Detectors, an important supplement to the knowledge now required to achieve full understanding of the workings of SDDs, CCDs, and Compound Semiconductor Detectors. The book provides an up-to-date review of the principles, practical applications, and state of the art of semiconductor x-ray detectors. It describes many of the facets of x-ray detection and measurement using semiconductors, from manufacture to implementation. The initial chapters present a self-contained summary of relevant background physics, materials science, and engineering aspects. Later chapters compare and contrast the assembly and physical properties of systems and materials currently employed, enabling readers to fully understand the materials and scope for applications.
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
شناسایی و اندازه گیری اشعه ایکس عنصری منتشر شده در هنگام بررسی مواد با ذرات (الکترون ها، پروتون ها، ذرات آلفا، و غیره) یا فوتون ها (اشعه ایکس و پرتوهای گاما) هنوز به عنوان تکنیک تحلیلی اولیه برای روتین در نظر گرفته می شود. و تجزیه و تحلیل مواد غیر مخرب آشکارساز پرتو ایکس سیلیکون رانده شده لیتیوم (Si(Li))، با وضوح خوب و اوج به پس زمینه، پیشگام این نوع تجزیه و تحلیل بر روی میکروسکوپ های الکترونی، ابزارهای فلورسانس اشعه ایکس و سیستم های تحریک مبتنی بر منبع رادیواکتیو و شتاب دهنده بود. اگرچه پیشرفت سریع در آشکارسازهای رانش سیلیکونی (SDD)، دستگاههای همراه شارژ (CCD) و آشکارسازهای نیمه هادی مرکب، از جمله علاقه مجدد به مواد جایگزین مانند CdZnTe و الماس، آشکارساز پرتو ایکس Si(Li) را تقریبا منسوخ کرده است، دستگاه به عنوان یک معیار مفید عمل می کند و هنوز هم در موارد خاصی استفاده می شود که عمق حساس و بزرگ آن ضروری است.
آشکارسازهای پرتو ایکس نیمه هادی بر تاریخچه و توسعه Si تمرکز دارد. لی) آشکارسازهای اشعه ایکس، مکمل مهمی برای دانش مورد نیاز برای دستیابی به درک کامل از عملکرد SDD ها، CCD ها و آشکارسازهای نیمه هادی مرکب. این کتاب بررسی به روزی از اصول، کاربردهای عملی و وضعیت هنر آشکارسازهای اشعه ایکس نیمه هادی را ارائه می دهد. بسیاری از جنبه های تشخیص و اندازه گیری اشعه ایکس با استفاده از نیمه هادی ها، از ساخت تا اجرا را توصیف می کند. فصلهای اولیه خلاصهای مستقل از فیزیک زمینه، علم مواد و جنبههای مهندسی را ارائه میدهند. فصلهای بعدی مونتاژ و ویژگیهای فیزیکی سیستمها و موادی را که در حال حاضر به کار میروند مقا
tag : دانلود کتاب آشکارسازهای اشعه ایکس نیمه هادی , Download آشکارسازهای اشعه ایکس نیمه هادی , دانلود آشکارسازهای اشعه ایکس نیمه هادی , Download Semiconductor X-Ray Detectors Book , آشکارسازهای اشعه ایکس نیمه هادی دانلود , buy آشکارسازهای اشعه ایکس نیمه هادی , خرید کتاب آشکارسازهای اشعه ایکس نیمه هادی , دانلود کتاب Semiconductor X-Ray Detectors , کتاب Semiconductor X-Ray Detectors , دانلود Semiconductor X-Ray Detectors , خرید Semiconductor X-Ray Detectors , خرید کتاب Semiconductor X-Ray Detectors ,
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.