دانلود کتاب Trace-based post-silicon validation for VLSI circuits – اعتبار سنجی پس سیلیکونی مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI

دسته بندی :
اطلاعات کتاب
  • جلد
  • سری Lecture Notes in Electrical Engineering 252
  • ویرایش 1
  • سال 2014
  • نویسنده (گان) Xiao Liu, Qiang Xu (auth.)
  • ناشر Springer International Publishing
  • زبان English
  • تعداد صفحات
  • حجم فایل 4.97MB
  • فرمت فایل pdf
  • شابک 9783319005331, 3319005332
قیمت محصول :

45,000 تومان

با خرید این محصول، 2,250 تومان به کیف پول شما بازگشت داده می‌شود

روند خرید و دریافت کتاب‌ها بدون هیچ اختلالی انجام می‌شود.
تمامی فایل‌ها بر روی سرورهای داخلی میزبانی می‌شوند تا بتوانید به راحتی و در لحظه آن‌ها را دانلود کنید. در صورت بروز هرگونه مشکل یا نیاز به راهنمایی، لطفاً از طریق « صفحه تماس باما» با تیم پشتیبانی در ارتباط باشید.

تمامی کتاب های موجود در وبسایت سای وان به زبان انگلیسی میباشد

توضیحات

This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices.

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

این کتاب ابتدا پوشش جامعی از راه حل های اعتبار سنجی پیشرفته بر اساس ردیابی سیگنال بلادرنگ برای تضمین صحت مدارهای VLSI ارائه می دهد. نویسندگان چندین چالش کلیدی در اعتبار سنجی پس از سیلیکون را مورد بحث قرار می دهند و راه حل های خودکاری را ارائه می دهند که سیستماتیک و مقرون به صرفه هستند. مجموعه‌ای از راه‌حل‌های ردیابی خودکار و طراحی خلاقانه برای تکنیک‌های اشکال‌زدایی (DfD)، از جمله تکنیک‌هایی برای انتخاب سیگنال ردیابی برای افزایش دید خطاهای عملکردی، استراتژی ردیابی سیگنال چندگانه برای بهبود تشخیص خطای عملکردی، راه‌حل ردیابی برای اشکال‌زدایی خطاهای الکتریکی، یک پارچه اتصال برای افزایش پهنای باند داده و پشتیبانی از اشکال زدایی چند هسته ای، یک تکنیک طراحی و بهینه سازی پارچه اتصال برای افزایش انعطاف پذیری انتقال و یک طراحی DfD و راه حل ردیابی مرتبط برای بهبود کارایی اشکال زدایی و گسترش پنجره ردیابی. راه حل های ارائه شده در این کتاب کیفیت اعتبارسنجی مدارهای VLSI را بهبود می بخشد و در نهایت امکان طراحی و ساخت دستگاه های الکترونیکی قابل اعتماد را فراهم می کند.


 

tag : دانلود کتاب اعتبار سنجی پس سیلیکونی مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI , Download اعتبار سنجی پس سیلیکونی مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI , دانلود اعتبار سنجی پس سیلیکونی مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI , Download Trace-based post-silicon validation for VLSI circuits Book , اعتبار سنجی پس سیلیکونی مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI دانلود , buy اعتبار سنجی پس سیلیکونی مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI , خرید کتاب اعتبار سنجی پس سیلیکونی مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI , دانلود کتاب Trace-based post-silicon validation for VLSI circuits , کتاب Trace-based post-silicon validation for VLSI circuits , دانلود Trace-based post-silicon validation for VLSI circuits , خرید Trace-based post-silicon validation for VLSI circuits , خرید کتاب Trace-based post-silicon validation for VLSI circuits ,

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “دانلود کتاب Trace-based post-silicon validation for VLSI circuits – اعتبار سنجی پس سیلیکونی مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI”