توضیحات
This book offers a genuinely practical introduction to the most commonly encountered opticaland non–optical systems used for the metrology and characterization of surfaces, including guidance on best practice, calibration, advantages and disadvantages, and interpretation of results. It enables the user to select the best approach in a given context.
Most methods in surface metrology are based upon the interaction of light or electromagnetic radiation (UV, NIR, IR), and different optical effects are utilized to get a certain optical response from the surface; some of them record only the intensity reflected or scattered by the surface, others use interference of EM waves to obtain a characteristic response from the surface. The book covers techniques ranging from microscopy (including confocal, SNOM and digital holographic microscopy) through interferometry (including white light, multi-wavelength, grazing incidence and shearing) to spectral reflectometry and ellipsometry. The non-optical methods comprise tactile methods (stylus tip, AFM) as well as capacitive and inductive methods (capacitive sensors, eddy current sensors).
The book provides:
- Overview of the working principles
- Description of advantages and disadvantages
- Currently achievable numbers for resolutions, repeatability, and reproducibility
- Examples of real-world applications
A final chapter discusses examples where the combination of different surface metrology techniques in a multi-sensor system can reasonably contribute to a better understanding of surface properties as well as a faster characterization of surfaces in industrial applications. The book is aimed at scientists and engineers who use such methods for the measurement and characterization of
surfaces across a wide range of fields and industries, including electronics, energy, automotive and medical engineering.
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
این کتاب مقدمه ای واقعاً عملی را برای متداول ترین نوری و غیر – سیستم های نوری که برای اندازه گیری و توصیف سطوح استفاده می شود ، ارائه می دهد. بهترین تمرین ، کالیبراسیون ، مزایا و معایب و تفسیر نتایج. این کاربر را قادر می سازد بهترین روش را در یک زمینه معین انتخاب کند. پاسخ نوری خاصی از سطح ؛ برخی از آنها فقط شدت منعکس شده یا پراکنده از سطح را ضبط می کنند ، برخی دیگر از تداخل امواج EM برای به دست آوردن یک پاسخ مشخصه از سطح استفاده می کنند. این کتاب تکنیک های مختلفی از میکروسکوپ (از جمله میکروسکوپ هولوگرافی کانفوکال ، SNOM و دیجیتال) را از طریق تداخل سنجی (از جمله نور سفید ، طول چند موج ، بروز چرای و برش) گرفته تا بازتاب سنجی طیفی و بیضی سنجی پوشش می دهد. روشهای غیر نوری شامل روشهای لمسی (نوک قلم ، AFM) و همچنین روشهای خازنی و القایی (سنسورهای خازنی ، سنسورهای فعلی ادی) است. >
- مروری بر اصول کار
- توضیحات مزایا و مضرات
- در حال حاضر اعداد قابل دستیابی برای قطعنامه ها ، تکرارپذیری و تکرارپذیری
- نمونه هایی از برنامه های کاربردی در دنیای واقعی تکنیک های اندازه گیری سطح در یک سیستم چند سنسور می تواند به طور منطقی در درک بهتر خواص سطح و همچنین توصیف سریعتر سطوح در کاربردهای صنعتی نقش داشته باشد. این کتاب با هدف دانشمندان و مهندسانی است که از چنین روش هایی برای اندازه گیری و توصیف سطوح
در طیف گسترده ای از مزارع و صنایع ، از جمله الکترونیک ، انرژی ، خودرو و مهندسی پزشکی استفاده می کنند. >
tag : دانلود کتاب یک راهنمای عملی برای اندازه گیری سطح , Download یک راهنمای عملی برای اندازه گیری سطح , دانلود یک راهنمای عملی برای اندازه گیری سطح , Download A Practical Guide to Surface Metrology Book , یک راهنمای عملی برای اندازه گیری سطح دانلود , buy یک راهنمای عملی برای اندازه گیری سطح , خرید کتاب یک راهنمای عملی برای اندازه گیری سطح , دانلود کتاب A Practical Guide to Surface Metrology , کتاب A Practical Guide to Surface Metrology , دانلود A Practical Guide to Surface Metrology , خرید A Practical Guide to Surface Metrology , خرید کتاب A Practical Guide to Surface Metrology ,
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.