دانلود کتاب Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies – روش‌های تست پیشرفته برای SRAM: راه‌حل‌های موثر برای تشخیص خطای دینامیکی در فناوری‌های مقیاس نانو

توضیحات

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

by:

Alberto Bosio

Luigi Dilillo

Patrick Girard

Serge Pravossoudovitch

Arnaud Virazel

Modern electronics depends on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnosis. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnosis of the latest generation of SRAM, one of the most widely used type of memories. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called ‘static faults’, but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new faults, referred to as ‘dynamic faults’, are not covered by classical algorithms and require the dedicated test and diagnosis solutions presented in this book.

• First book to present complete, state-of-the-art coverage of dynamic fault testing for SRAM memories;
• Presents content using a ‘bottom-up’ approach, from the study of the electrical causes of malfunctions up to the generation of smart test strategies;
• Includes case studies covering all memory components (core-cells, address decoders, write drivers, sense amplifiers, etc.);
• Proposes an exhaustive analysis of resistive-open defects in each memory component and the resulting dynamic fault modeling.

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

روش‌های آزمایش پیشرفته برای SRAM: راه‌حل‌های مؤثر برای تشخیص عیب دینامیکی در فناوری‌های مقیاس نانو

توسط:

Alberto Bosio

Luigi Dilillo

پاتریک ژیرارد

سرژ پراووسودوویچ

آرنود ویرازل

الکترونیک مدرن به فناوری های نانومقیاس بستگی دارد که چالش های جدیدی را از نظر آزمایش و تشخیص ارائه می کند. حافظه ها به ویژه در معرض نقص هستند زیرا از محدودیت های فناوری برای بدست آوردن بالاترین تراکم استفاده می کنند. این کتاب راهنمای ارزشمندی برای تست و تشخیص آخرین نسل SRAM، یکی از پرکاربردترین انواع حافظه است. روش‌های کلاسیک برای آزمایش حافظه برای مدیریت به اصطلاح «عیب‌های استاتیک» طراحی شده‌اند، اما این راه‌حل‌های آزمایشی برای خطاهایی که در جدیدترین فناوری‌های بسیار عمیق زیر میکرون (VDSM) در حال ظهور هستند، کافی نیستند. این خطاهای جدید، که به عنوان “عیوب پویا” نامیده می شوند، توسط الگوریتم های کلاسیک پوشش داده نمی شوند و نیاز به تست و راه حل های تشخیص اختصاصی ارائه شده در این کتاب دارند.