توضیحات
This bookenlightens readers onthe basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.
Supplementary material for this book can be found by entering ISBN 9780470638828 on booksupport.wiley.com
Content:
Chapter 1 Overview of AFM (pages 132):
Chapter 2 Distance?Dependent Interactions (pages 3390):
Chapter 3 Z?Dependent Force Measurements with AFM (pages 91136):
Chapter 4 Topographic Imaging (pages 137186):
Chapter 5 Probing Material Properties I: Phase Imaging (pages 187257):
Chapter 6 Probing Material Properties II: Adhesive Nanomechanics and Mapping Distance?Dependent Interactions (pages 258329):
Chapter 7 Probing Material Properties III: Lateral Force Methods (pages 330378):
Chapter 8 Data Post?Processing and Statistical Analysis (pages 379399):
Chapter 9 Advanced Dynamic Force Methods (pages 400436):
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
این خوانندگان Bookenlightens بر روی خصوصیات اصلی سطح و نیروهای وابسته به فاصله وابسته به فاصله ، باید درک کنید تا حتی داده های ساده ای را از میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) بدست آورید. این ماده به تدریج در طول کتاب پیچیده تر می شود و جزئیات کالیبراسیون ، منشأ فیزیکی مصنوعات و محدودیت های سیگنال/نویز را توضیح می دهد. پوشش های پوشش ، خصوصیات خاصیت مواد ، تجزیه و تحلیل سطحی درون مایع ، تریبولوژی و تعامل الکترومغناطیسی. /P> محتوا:
فصل 1 نمای کلی از AFM (صفحات 132):
فصل 2 از راه دور؟ تعامل وابسته (صفحات 3390):
فصل 3 z اندازه گیری نیروی وابسته با AFM (صفحات 91136): < BR> فصل 4 تصویربرداری توپوگرافی (صفحات 137186):
فصل 5 پروب خواص مواد I: تصویربرداری فاز (صفحات 187257):
فصل 6 خواص مواد II: نانومکانیک چسب و فاصله نقشه برداری؟ تعامل وابسته (صفحات 258329) :
فصل 7 پروب خواص مواد III: روشهای نیروی جانبی (صفحات 330378):
فصل 8 داده پست؟ پردازش و تجزیه و تحلیل آماری (صفحات 379399):
فصل 9 روشهای پیشرفته نیروی پویا (صفحات 400436):
tag : دانلود کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی: درک حالت های اساسی و برنامه های پیشرفته , Download میکروسکوپ نیروی اتمی: درک حالت های اساسی و برنامه های پیشرفته , دانلود میکروسکوپ نیروی اتمی: درک حالت های اساسی و برنامه های پیشرفته , Download Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications Book , میکروسکوپ نیروی اتمی: درک حالت های اساسی و برنامه های پیشرفته دانلود , buy میکروسکوپ نیروی اتمی: درک حالت های اساسی و برنامه های پیشرفته , خرید کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی: درک حالت های اساسی و برنامه های پیشرفته , دانلود کتاب Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications , کتاب Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications , دانلود Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications , خرید Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications , خرید کتاب Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications ,
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.