دانلود کتاب Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science: A User-Oriented Guide – طیف سنجی فوتوالکترونی اورگر و اشعه ایکس در علم مواد: راهنمای کاربر گرا

دسته بندی :
اطلاعات کتاب
  • جلد
  • سری Springer Series in Surface Sciences 49
  • ویرایش 1
  • سال 2013
  • نویسنده (گان) Siegfried Hofmann (auth.)
  • ناشر Springer-Verlag Berlin Heidelberg
  • زبان English
  • تعداد صفحات
  • حجم فایل 11.06MB
  • فرمت فایل pdf
  • شابک 9783642273803, 9783642273810
قیمت محصول :

45,000 تومان

با خرید این محصول، 2,250 تومان به کیف پول شما بازگشت داده می‌شود

روند خرید و دریافت کتاب‌ها بدون هیچ اختلالی انجام می‌شود.
تمامی فایل‌ها بر روی سرورهای داخلی میزبانی می‌شوند تا بتوانید به راحتی و در لحظه آن‌ها را دانلود کنید. در صورت بروز هرگونه مشکل یا نیاز به راهنمایی، لطفاً از طریق « صفحه تماس باما» با تیم پشتیبانی در ارتباط باشید.

تمامی کتاب های موجود در وبسایت سای وان به زبان انگلیسی میباشد

توضیحات

To anyone who is interested in surface chemical analysis of materials on the nanometer scale, this book is prepared to give appropriate information. Based on typical application examples in materials science, a concise approach to all aspects of quantitative analysis of surfaces and thin films with AES and XPS is provided. Starting from basic principles which are step by step developed into practically useful equations, extensive guidance is given to graduate students as well as to experienced researchers. Key chapters are those on quantitative surface analysis and on quantitative depth profiling, including recent developments in topics such as surface excitation parameter and backscattering correction factor. Basic relations are derived for emission and excitation angle dependencies in the analysis of bulk material and of fractional nano-layer structures, and for both smooth and rough surfaces. It is shown how to optimize the analytical strategy, signal-to-noise ratio, certainty and detection limit. Worked examples for quantification of alloys and of layer structures in practical cases (e.g. contamination, evaporation, segregation and oxidation) are used to critically review different approaches to quantification with respect to average matrix correction factors and matrix relative sensitivity factors. State-of-the-art issues in quantitative, destructive and non-destructive depth profiling are discussed with emphasis on sputter depth profiling and on angle resolved XPS and AES. Taking into account preferential sputtering and electron backscattering corrections, an introduction to the mixing-roughness-information depth (MRI) model and its extensions is presented.

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

برای هر کسی که علاقه مند به تجزیه و تحلیل شیمیایی سطح مواد در مقیاس نانومتری است، این کتاب برای ارائه اطلاعات مناسب تهیه شده است. بر اساس نمونه‌های کاربردی معمولی در علم مواد، یک رویکرد مختصر به تمام جنبه‌های تحلیل کمی سطوح و لایه‌های نازک با AES و XPS ارائه شده است. با شروع از اصول اولیه که گام به گام به معادلات کاربردی تبدیل می شوند، راهنمایی های گسترده ای به دانشجویان فارغ التحصیل و همچنین به محققان با تجربه داده می شود. فصول کلیدی مربوط به تجزیه و تحلیل کمی سطح و پروفیل عمق کمی است، از جمله پیشرفت‌های اخیر در موضوعاتی مانند پارامتر تحریک سطح و ضریب تصحیح پس‌پراکندگی. روابط پایه برای وابستگی های زاویه انتشار و تحریک در تجزیه و تحلیل مواد حجیم و ساختارهای نانولایه کسری و برای سطوح صاف و ناهموار مشتق شده است. نحوه بهینه سازی استراتژی تحلیلی، نسبت سیگنال به نویز، قطعیت و حد تشخیص نشان داده شده است. نمونه های کار شده برای کمی سازی آلیاژها و ساختارهای لایه در موارد عملی (مانند آلودگی، تبخیر، جداسازی و اکسیداسیون) برای بررسی انتقادی رویکردهای مختلف برای کمی سازی با توجه به میانگین عوامل اصلاح ماتریس و عوامل حساسیت نسبی ماتریس استفاده می شود. مسائل پیشرفته در پروفیل عمق کمی، مخرب و غیر مخرب با تاکید بر پروفیل عمق کندوپاش و XPS و AES با زاویه باز مورد بحث قرار گرفته است. با در نظر گرفتن اصلاحات کندوپاش ترجیحی و پراکندگی الکترون، مقدمه ای بر مدل عمق اطلاعات اختلاط-زبری-اطلاعات (MRI) و پسوندهای آن ارائه شده است.


 

tag : دانلود کتاب طیف سنجی فوتوالکترونی اورگر و اشعه ایکس در علم مواد: راهنمای کاربر گرا , Download طیف سنجی فوتوالکترونی اورگر و اشعه ایکس در علم مواد: راهنمای کاربر گرا , دانلود طیف سنجی فوتوالکترونی اورگر و اشعه ایکس در علم مواد: راهنمای کاربر گرا , Download Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science: A User-Oriented Guide Book , طیف سنجی فوتوالکترونی اورگر و اشعه ایکس در علم مواد: راهنمای کاربر گرا دانلود , buy طیف سنجی فوتوالکترونی اورگر و اشعه ایکس در علم مواد: راهنمای کاربر گرا , خرید کتاب طیف سنجی فوتوالکترونی اورگر و اشعه ایکس در علم مواد: راهنمای کاربر گرا , دانلود کتاب Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science: A User-Oriented Guide , کتاب Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science: A User-Oriented Guide , دانلود Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science: A User-Oriented Guide , خرید Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science: A User-Oriented Guide , خرید کتاب Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science: A User-Oriented Guide ,

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “دانلود کتاب Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science: A User-Oriented Guide – طیف سنجی فوتوالکترونی اورگر و اشعه ایکس در علم مواد: راهنمای کاربر گرا”