توضیحات
The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). However, ultra-scaled semiconductor devices require nanometer control of the many parameters essential for their fabrication. Through the years, this created a strong alliance between microscopy techniques and IC manufacturing. This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development. The operation principles of many techniques are introduced, and the associated metrology challenges described. Blending the expertise of industrial specialists and academic researchers, the chapters are dedicated to various AFM methods and their impact on the development of emerging nanoelectronic devices. The goal is to introduce the major electrical AFM methods, following the journey that has seen our lives changed by the advent of ubiquitous nanoelectronics devices, and has extended our capability to sense matter on a scale previously inaccessible.
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
تأثیر عظیم دستگاههای الکترونیکی بر زندگی ما نتیجه بهبود مداوم میلیاردها مؤلفه نانوالکترونیک در داخل مدارهای یکپارچه (IC) است. با این حال ، دستگاه های نیمه هادی فوق العاده مقیاس نیاز به کنترل نانومتر از پارامترهای بسیاری برای ساخت آنها دارند. در طول سالها ، این اتحاد قوی بین تکنیک های میکروسکوپی و تولید IC ایجاد کرد. این کتاب با تأکید بر تأثیر میکروسکوپ نیروی اتمی الکتریکی (AFM) برای توسعه آنها ، آخرین پیشرفت در دستگاه های IC را بررسی می کند. اصول عملکرد بسیاری از تکنیک ها معرفی شده است ، و چالش های اندازه گیری مرتبط با اندازه گیری. این فصل با ترکیب تخصص متخصصان صنعتی و محققان دانشگاهی ، به روشهای مختلف AFM و تأثیر آنها در توسعه دستگاه های نانوالکترونیک نوظهور اختصاص یافته است. هدف این است که به دنبال سفری که زندگی ما را با ظهور دستگاه های نانوالکترونیک همه جا تغییر داده است ، معرفی روشهای اصلی AFM برقی است و توانایی ما را برای حس کردن ماده در مقیاس قبلاً غیرقابل دسترسی گسترش داده است.
tag : دانلود کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی الکتریکی برای نانوالکترونیک , Download میکروسکوپ نیروی اتمی الکتریکی برای نانوالکترونیک , دانلود میکروسکوپ نیروی اتمی الکتریکی برای نانوالکترونیک , Download Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics Book , میکروسکوپ نیروی اتمی الکتریکی برای نانوالکترونیک دانلود , buy میکروسکوپ نیروی اتمی الکتریکی برای نانوالکترونیک , خرید کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی الکتریکی برای نانوالکترونیک , دانلود کتاب Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics , کتاب Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics , دانلود Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics , خرید Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics , خرید کتاب Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics ,
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.