توضیحات
This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures. . Read more…
Abstract: This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors. The book presents novel techniques for high-level fault simulation and reliability estimation as well as architecture-level and system-level fault tolerant designs. It also presents a survey of state-of-the-art problems and solutions, offering insights into reliability issues in digital design and their cross-layer countermeasures
این کتاب یک چارچوب جدید برای مدلسازی دقیق خطاها در فناوری CMOS در مقیاس نانو و ایجاد یک جریان ابزار صاف در انتزاعهای طراحی سطح بالا برای تخمین و کاهش اثرات خطاها معرفی میکند. این کتاب تکنیکهای جدیدی را برای شبیهسازی خطای سطح بالا و برآورد قابلیت اطمینان و همچنین طراحیهای مقاوم به خطا در سطح معماری و سطح سیستم ارائه میکند. همچنین یک بررسی از مشکلات و راه حل های پیشرفته ارائه می دهد و بینش هایی را در مورد مسائل قابلیت اطمینان در طراحی دیجیتال و اقدامات متقابل بین لایه ای ارائه می دهد. . ادامه مطلب…
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.