دانلود کتاب Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach – سازگاری رابط در میکروالکترونیک: دور شدن از رویکرد آزمون و خطا

دسته بندی :
اطلاعات کتاب
  • جلد
  • سری Microsystems
  • ویرایش 1
  • سال 2012
  • نویسنده (گان) Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Krckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti (auth.)
  • ناشر Springer-Verlag London
  • زبان English
  • تعداد صفحات
  • حجم فایل 5.64MB
  • فرمت فایل pdf
  • شابک 1447124693, 9781447124696
قیمت محصول :

45,000 تومان

با خرید این محصول، 2,250 تومان به کیف پول شما بازگشت داده می‌شود

روند خرید و دریافت کتاب‌ها بدون هیچ اختلالی انجام می‌شود.
تمامی فایل‌ها بر روی سرورهای داخلی میزبانی می‌شوند تا بتوانید به راحتی و در لحظه آن‌ها را دانلود کنید. در صورت بروز هرگونه مشکل یا نیاز به راهنمایی، لطفاً از طریق « صفحه تماس باما» با تیم پشتیبانی در ارتباط باشید.

تمامی کتاب های موجود در وبسایت سای وان به زبان انگلیسی میباشد

توضیحات

Interfaces between dissimilar materials are met everywhere in microelectronics and microsystems. In order to ensure faultless operation of these highly sophisticated structures, it is mandatory to have fundamental understanding of materials and their interactions in the system. In this difficult task, the traditional method of trial and error is not feasible anymore; it takes too much time and repeated efforts. In Interfacial Compatibility in Microelectronics, an alternative approach is introduced.

In this revised method four fundamental disciplines are combined: i) thermodynamics of materials ii) reaction kinetics iii) theory of microstructures and iv) stress and strain analysis. The advantages of the method are illustrated in Interfacial Compatibility in Microelectronics which includes:

solutions to several common reliability issues in microsystem technology,

methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials and

an approach to DFR based on deep understanding in materials science, rather than on the use of mechanistic tools, such as FMEA.

Interfacial Compatibility in Microelectronics provides a clear and methodical resource for graduates and postgraduates alike.

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

رابط بین مواد متفاوت در همه جا در میکروالکترونیک و میکروسیستم ها وجود دارد. برای اطمینان از عملکرد بی عیب این ساختارهای بسیار پیچیده، داشتن درک اساسی از مواد و تعاملات آنها در سیستم الزامی است. در این کار دشوار، روش سنتی آزمون و خطا دیگر قابل اجرا نیست. زمان زیادی می برد و تلاش های مکرر. در سازگاری سطحی در میکروالکترونیک، یک رویکرد جایگزین معرفی شده است.

در این روش تجدید نظر شده چهار رشته اساسی ترکیب می‌شوند: ال) ترمودینامیک مواد، ۲) سینتیک واکنش، ۳) نظریه ریزساختارها. و IV) آنالیز تنش و کرنش. مزایای روش در سازگاری سطحی در میکروالکترونیک نشان داده شده است که شامل:

راه‌حل‌هایی برای چندین مسئله قابلیت اطمینان رایج در فناوری میکروسیستم، روش‌هایی برای درک و درک پیش‌بینی مکانیسم‌های شکست در رابط‌های بین مواد غیرمشابه و

رویکردی به DFR مبتنی بر درک عمیق در علم مواد، به جای استفاده از ابزارهای مکانیکی، مانند FMEA.

سازگاری رابط. در میکروالکترونیک یک منبع روشن و روشمند برای فارغ التحصیلان و فارغ التحصیلان به طور یکسان فراهم می کند.


 

tag : دانلود کتاب سازگاری رابط در میکروالکترونیک: دور شدن از رویکرد آزمون و خطا , Download سازگاری رابط در میکروالکترونیک: دور شدن از رویکرد آزمون و خطا , دانلود سازگاری رابط در میکروالکترونیک: دور شدن از رویکرد آزمون و خطا , Download Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach Book , سازگاری رابط در میکروالکترونیک: دور شدن از رویکرد آزمون و خطا دانلود , buy سازگاری رابط در میکروالکترونیک: دور شدن از رویکرد آزمون و خطا , خرید کتاب سازگاری رابط در میکروالکترونیک: دور شدن از رویکرد آزمون و خطا , دانلود کتاب Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach , کتاب Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach , دانلود Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach , خرید Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach , خرید کتاب Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach ,

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “دانلود کتاب Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach – سازگاری رابط در میکروالکترونیک: دور شدن از رویکرد آزمون و خطا”