دانلود کتاب Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials – ترموگرافی قفل: اصول و استفاده برای ارزیابی دستگاه ها و مواد الکترونیکی

دسته بندی :
اطلاعات کتاب
  • جلد
  • سری Springer Series in Advanced Microelectronics 10
  • ویرایش 3rd ed.
  • سال 2018
  • نویسنده (گان) Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin C. Schubert
  • ناشر Springer International Publishing
  • زبان English
  • تعداد صفحات 339
  • حجم فایل 12.41MB
  • فرمت فایل pdf
  • شابک 9783319998244, 9783319998251
قیمت محصول :

45,000 تومان

با خرید این محصول، 2,250 تومان به کیف پول شما بازگشت داده می‌شود

روند خرید و دریافت کتاب‌ها بدون هیچ اختلالی انجام می‌شود.
تمامی فایل‌ها بر روی سرورهای داخلی میزبانی می‌شوند تا بتوانید به راحتی و در لحظه آن‌ها را دانلود کنید. در صورت بروز هرگونه مشکل یا نیاز به راهنمایی، لطفاً از طریق « صفحه تماس باما» با تیم پشتیبانی در ارتباط باشید.

تمامی کتاب های موجود در وبسایت سای وان به زبان انگلیسی میباشد

توضیحات

This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

این کتاب در مورد ترموگرافی قفل (LIT) به عنوان یک نوع پویا از ترموگرافی IR که به طور گسترده شناخته شده است ، بحث می کند. این برنامه بر روی برنامه های کاربردی به دستگاه ها و مواد الکترونیکی متمرکز است ، اما همچنین شامل فصل هایی است که به ارزیابی غیر مخرب می پردازند. منابع گرمای تعدیل شده به طور دوره ای اجازه می دهد تا نسبت سیگنال به نویز (حداکثر 1000 برابر) و وضوح جانبی به مراتب بهتر در مقایسه با ترموگرافی حالت پایدار. با بررسی رویکردهای مختلف آزمایشی برای روشن شدن ، به ویژه سیستم های روشن تجاری موجود ، این نسخه 3 برنامه های LIT جدید را معرفی می کند ، مانند LIT روشن شده برای سلولهای خورشیدی ، نقشه برداری طول عمر غیر حرارتی و کاربرد LIT برای چرخش مشکلات کالوریترونیک. مطالعات موردی بیشمار مورد بررسی قرار گرفته است.


 

tag : دانلود کتاب ترموگرافی قفل: اصول و استفاده برای ارزیابی دستگاه ها و مواد الکترونیکی , Download ترموگرافی قفل: اصول و استفاده برای ارزیابی دستگاه ها و مواد الکترونیکی , دانلود ترموگرافی قفل: اصول و استفاده برای ارزیابی دستگاه ها و مواد الکترونیکی , Download Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials Book , ترموگرافی قفل: اصول و استفاده برای ارزیابی دستگاه ها و مواد الکترونیکی دانلود , buy ترموگرافی قفل: اصول و استفاده برای ارزیابی دستگاه ها و مواد الکترونیکی , خرید کتاب ترموگرافی قفل: اصول و استفاده برای ارزیابی دستگاه ها و مواد الکترونیکی , دانلود کتاب Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials , کتاب Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials , دانلود Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials , خرید Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials , خرید کتاب Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials ,

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “دانلود کتاب Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials – ترموگرافی قفل: اصول و استفاده برای ارزیابی دستگاه ها و مواد الکترونیکی”