توضیحات
This book provides readers with a detailed reference regarding two of the most important long-term reliability and aging effects on nanometer integrated systems, electromigrations (EM) for interconnect and biased temperature instability (BTI) for CMOS devices. The authors discuss in detail recent developments in the modeling, analysis and optimization of the reliability effects from EM and BTI induced failures at the circuit, architecture and system levels of abstraction. Readers will benefit from a focus on topics such as recently developed, physics-based EM modeling, EM modeling for multi-segment wires, new EM-aware power grid analysis, and system level EM-induced reliability optimization and management techniques.
- Reviews classic Electromigration (EM) models, as well as existing EM failure models and discusses the limitations of those models;
- Introduces a dynamic EM model to address transient stress evolution, in which wires are stressed under time-varying current flows, and the EM recovery effects. Also includes new, parameterized equivalent DC current based EM models to address the recovery and transient effects;
- Presents a cross-layer approach to transistor aging modeling, analysis and mitigation, spanning multiple abstraction levels;
- Equips readers for EM-induced dynamic reliability management and energy or lifetime optimization techniques, for many-core dark silicon microprocessors, embedded systems, lower power many-core processors and datacenters.
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
این کتاب به خوانندگان مرجع مفصلی در رابطه با دو مورد از مهمترین اثرات بلندمدت قابلیت اطمینان و پیری بر روی سیستمهای یکپارچه نانومتری، مهاجرتهای الکتریکی (EM) برای اتصال و بیثباتی دمایی (BTI) برای دستگاههای CMOS، ارائه میکند. نویسندگان به تفصیل درباره پیشرفتهای اخیر در مدلسازی، تحلیل و بهینهسازی اثرات قابلیت اطمینان ناشی از خرابیهای ناشی از EM و BTI در سطوح مدار، معماری و سیستم انتزاع بحث میکنند. خوانندگان از تمرکز بر موضوعاتی مانند اخیراً توسعهیافته، مدلسازی EM مبتنی بر فیزیک، مدلسازی EM برای سیمهای چند بخش، تحلیل شبکه برق جدید آگاه از EM، و تکنیکهای بهینهسازی و مدیریت قابلیت اطمینان ناشی از EM در سطح سیستم بهرهمند خواهند شد.
- مدلهای کلاسیک Electromigration (EM) و همچنین مدلهای خرابی EM موجود را بررسی می کند و محدودیت های آن مدل ها را مورد بحث قرار می دهد؛
- یک EM پویا را معرفی می کند. مدلی برای پرداختن به تکامل تنش گذرا، که در آن سیمها تحت فشار جریانهای متغیر با زمان، و اثرات بازیابی EM تحت فشار قرار میگیرند. همچنین شامل مدلهای EM مبتنی بر جریان DC معادل جدید و پارامتری شده برای پرداختن به بازیابی و اثرات گذرا است؛
- رویکردی بین لایهای برای مدلسازی، تحلیل و کاهش پیری ترانزیستور ارائه میدهد که سطوح انتزاعی متعدد را در بر میگیرد.
- خوانندگان را برای مدیریت قابلیت اطمینان پویا ناشی از EM و تکنیکهای بهینهسازی انرژی یا طول عمر، برای ریزپردازندههای سیلیکونی تیره چند هستهای، سیستمهای جاسازی شده، پردازندههای چند هستهای کمتوان و مراکز داده مج
tag : دانلود کتاب قابلیت اطمینان بلند مدت سیستم های نانومتری VLSI: مدل سازی، تجزیه و تحلیل و بهینه سازی , Download قابلیت اطمینان بلند مدت سیستم های نانومتری VLSI: مدل سازی، تجزیه و تحلیل و بهینه سازی , دانلود قابلیت اطمینان بلند مدت سیستم های نانومتری VLSI: مدل سازی، تجزیه و تحلیل و بهینه سازی , Download Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization Book , قابلیت اطمینان بلند مدت سیستم های نانومتری VLSI: مدل سازی، تجزیه و تحلیل و بهینه سازی دانلود , buy قابلیت اطمینان بلند مدت سیستم های نانومتری VLSI: مدل سازی، تجزیه و تحلیل و بهینه سازی , خرید کتاب قابلیت اطمینان بلند مدت سیستم های نانومتری VLSI: مدل سازی، تجزیه و تحلیل و بهینه سازی , دانلود کتاب Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization , کتاب Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization , دانلود Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization , خرید Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization , خرید کتاب Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization ,
برای ثبت نقد و بررسی وارد حساب کاربری خود شوید.
دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.