توضیحات
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory. The author discusses background selection and address reordering algorithms in multi-run transparent march testing processes. Formal methods for multi-run test generation and many solutions to increase their efficiency are described in detail. All methods presented ideas are verified by both analytical investigations and numerical simulations. Provides the first book related exclusively to the problem of multi-cell fault detection by multi-run tests in memory testing process; Presents practical algorithms for design and implementation of efficient multi-run tests; Demonstrates methods verified by analytical and experimental investigations.;Introduction to digital memory — Basics of functional RAM testing — Multi-cell faults — Controlled random testing — Multi-run tests based on background changing — Multi-run tests based on address changing — Multiple controlled random testing — Pseudo exhaustive testing based on march tests — Conclusion.
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
این کتاب تکنیک های کارآمد برای آزمایش تولید و همچنین برای آزمایش تعمیر و نگهداری دوره ای (به ویژه از نظر خطاهای چند سلولی) در حافظه نیمه هادی مدرن را توصیف می کند. نویسنده انتخاب پسزمینه و الگوریتمهای مرتبسازی مجدد آدرس را در فرآیندهای آزمایشی شفاف چند مرحلهای بحث میکند. روشهای رسمی برای تولید آزمایش چند مرحلهای و بسیاری از راهحلها برای افزایش کارایی آنها به تفصیل شرح داده شدهاند. تمام روشهای ارائهشده ایدهها با بررسیهای تحلیلی و شبیهسازی عددی تأیید میشوند. ارائه اولین کتاب به طور انحصاری مربوط به مشکل تشخیص خطای چند سلولی توسط تست های چند مرحله ای در فرآیند تست حافظه. ارائه الگوریتم های عملی برای طراحی و اجرای تست های کارآمد چند مرحله ای. روشهایی را نشان میدهد که با بررسیهای تحلیلی و تجربی تأیید شدهاند.؛ مقدمهای بر حافظه دیجیتال – مبانی آزمایش RAM عملکردی – خطاهای چند سلولی – آزمایش تصادفی کنترلشده – آزمایشهای چند مرحلهای بر اساس تغییر پسزمینه – آزمایشهای چند اجرای بر اساس تغییر آدرس — آزمایش تصادفی کنترل شده چندگانه — آزمایش شبه جامع بر اساس آزمون های مارس — نتیجه گیری.
tag : دانلود کتاب تست های حافظه چند مرحله ای برای خطاهای حساس به الگو , Download تست های حافظه چند مرحله ای برای خطاهای حساس به الگو , دانلود تست های حافظه چند مرحله ای برای خطاهای حساس به الگو , Download Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Book , تست های حافظه چند مرحله ای برای خطاهای حساس به الگو دانلود , buy تست های حافظه چند مرحله ای برای خطاهای حساس به الگو , خرید کتاب تست های حافظه چند مرحله ای برای خطاهای حساس به الگو , دانلود کتاب Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults , کتاب Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults , دانلود Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults , خرید Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults , خرید کتاب Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults ,
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.