توضیحات
Variability is one of the most challenging obstacles for IC design in the nanometer regime. In nanometer technologies, SRAM show an increased sensitivity to process variations due to low-voltage operation requirements, which are aggravated by the strong demand for lower power consumption and cost, while achieving higher performance and density. With the drastic increase in memory densities, lower supply voltages, and higher variations, statistical simulation methodologies become imperative to estimate memory yield and optimize performance and power.
This bookis an invaluable reference on robust SRAM circuits and statistical design methodologies for researchers and practicing engineers in the field of memory design. It combines state of the art circuit techniques and statistical methodologies to optimizeSRAM performance and yield in nanometer technologies.
- Provides comprehensive review of state-of-the-art, variation-tolerant SRAM circuit techniques;
- Discusses Impact of device related process variations and how they affect circuit and system performance, from a design point of view;
- Helps designers optimize memory yield, with practical statistical design methodologies and yield estimation techniques.
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
تغییرپذیری یکی از چالش برانگیزترین موانع برای طراحی IC در رژیم نانومتری است. در فناوریهای نانومتری، SRAM به دلیل نیازهای عملیات ولتاژ پایین، حساسیت بیشتری نسبت به تغییرات فرآیند نشان میدهد، که با تقاضای شدید برای مصرف انرژی و هزینه کمتر تشدید میشود، در حالی که به عملکرد و چگالی بالاتری دست مییابد. با افزایش شدید تراکم حافظه، ولتاژهای تغذیه کمتر و تغییرات بیشتر، روشهای شبیهسازی آماری برای تخمین بازده حافظه و بهینهسازی عملکرد و توان ضروری میشوند.
این کتابیک کتاب ارزشمند است. مرجع مدارهای SRAM قوی و روش های طراحی آماری برای محققان و مهندسان مجرب در زمینه طراحی حافظه. این فناوری جدیدترین تکنیکهای مدار و روشهای آماری را برای بهینهسازی عملکرد و بازدهیSRAM در فناوریهای نانومتری ترکیب میکند.
- بررسی جامع تکنیکهای مدار SRAM پیشرفته و مقاوم در برابر تغییرات را ارائه میکند.
- تأثیر تغییرات فرآیند مربوط به دستگاه و نحوه تأثیر آنها بر عملکرد مدار و سیستم از دیدگاه طراحی بحث میکند؛
- به طراحان کمک میکند تا بازدهی حافظه را با روشهای طراحی آماری عملی و بازده بهینه کنند. تکنیک های تخمین.
tag : دانلود کتاب SRAM مقاوم در برابر تغییرات نانومتری: مدارها و طراحی آماری برای بازده , Download SRAM مقاوم در برابر تغییرات نانومتری: مدارها و طراحی آماری برای بازده , دانلود SRAM مقاوم در برابر تغییرات نانومتری: مدارها و طراحی آماری برای بازده , Download Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield Book , SRAM مقاوم در برابر تغییرات نانومتری: مدارها و طراحی آماری برای بازده دانلود , buy SRAM مقاوم در برابر تغییرات نانومتری: مدارها و طراحی آماری برای بازده , خرید کتاب SRAM مقاوم در برابر تغییرات نانومتری: مدارها و طراحی آماری برای بازده , دانلود کتاب Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield , کتاب Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield , دانلود Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield , خرید Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield , خرید کتاب Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield ,
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.