توضیحات
A comprehensive review of the state of the art and advances in the field, while also outlining the future potential and development trends of optical imaging and optical metrology, an area of fast growth with numerous applications in nanotechnology and nanophysics. Written by the world’s leading experts in the field, it fills the gap in the current literature by bridging the fields of optical imaging and metrology, and is the only up-to-date resource in terms of fundamental knowledge, basic concepts, methodologies, applications, and development trends.Content:
Chapter 1 LCOS Spatial Light Modulators: Trends and Applications (pages 129): Grigory Lazarev, Andreas Hermerschmidt, Sven Kruger and Stefan Osten
Chapter 2 Three?Dimensional Display and Imaging: Status and Prospects (pages 3156): Byoungho Lee and Youngmin Kim
Chapter 3 Holographic Television: Status and Future (pages 5794): Malgorzata Kujawinska and Tomasz Kozacki
Chapter 4 Display HolographyStatus and Future (pages 95119): Ventseslav Sainov and Elena Stoykova
Chapter 5 Incoherent Computer?Generated Holography for 3D Color Imaging and Display (pages 121134): Toyohiko Yatagai and Yusuke Sando
Chapter 6 Approaches to Overcome the Resolution Problem in Incoherent Digital Holography (pages 135161): Joseph Rosen, Natan T. Shaked, Barak Katz and Gary Brooker
Chapter 7 Managing Digital Holograms and the Numerical Reconstruction Process for Focus Flexibility (pages 163177): Melania Paturzo and Pietro Ferraro
Chapter 8 Three?Dimensional Particle Control by Holographic Optical Tweezers (pages 179206): Mike Woerdemann, Christina Alpmann and Cornelia Denz
Chapter 9 The Role of Intellectual Property Protection in Creating Business in Optical Metrology (pages 207223): Dr. Nadya Reingand
Chapter 10 On the Difference between 3D Imaging and 3D Metrology for Computed Tomography (pages 225238): Daniel Wei? and Michael Totzeck
Chapter 11 Coherence Holography: Principle and Applications (pages 239253): Mitsuo Takeda, Wei Wang and Dinesh N. Naik
Chapter 12 Quantitative Optical Microscopy at the Nanoscale: New Developments and Comparisons (pages 255282): Bernd Bodermann, Egbert Buhr, Zhi Li and Harald Bosse
Chapter 13 Model?Based Optical Metrology (pages 283304): Xavier Colonna de Lega
Chapter 14 Advanced MEMS Inspection by Direct and Indirect Solution Strategies (pages 305326): Ryszard J. Pryputniewicz
Chapter 15 Different Ways to Overcome the Resolution Problem in Optical Micro and Nano Metrology (pages 327368): Prof. Dr. Wolfgang Osten
Chapter 16 Interferometry in Harsh Environments (pages 369391): Jr. Armando Albertazzi G.
Chapter 17 Advanced Methods for Optical Nondestructive Testing (pages 393412): Ralf B. Bergmann and Philipp Huke
Chapter 18 Upgrading Holographic Interferometry for Industrial Application by Digital Holography (pages 413437): Zoltaan Fuzessy, Ferenc Gyimesi and Venczel Borbely
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
یک مرور جامع از وضعیت هنر و پیشرفت در این زمینه ، ضمن اینکه به تشریح روندهای پتانسیل و توسعه آینده تصویربرداری نوری و اندازه گیری نوری ، منطقه ای از رشد سریع با کاربردهای بی شماری در فناوری نانو و نانوفیزیک می پردازد. نوشته شده توسط کارشناسان برجسته جهان در این زمینه ، با پل زدن زمینه های تصویربرداری و اندازه گیری نوری ، شکاف ادبیات فعلی را پر می کند و تنها منبع به روز از نظر دانش اساسی ، مفاهیم اساسی ، روش شناسی ، برنامه ها است ، و روند توسعه .Content:
فصل 1 LCOS تعدیل کننده های نوری فضایی: روندها و برنامه های کاربردی (صفحات 129): Grigory Lazarev ، Andreas Hermerschmidt ، Sven Kruger و Stefan Osten
فصل 2 سه صفحه نمایش ابعاد و تصویربرداری: وضعیت و تصویربرداری: وضعیت و تصویربرداری: وضعیت و تصویربرداری: وضعیت و تصویربرداری: چشم اندازها (صفحات 3156): Byoungho Le و Youngmin Kim
فصل 3 تلویزیون هولوگرافی: وضعیت و آینده (صفحات 5794): Malgorzata Kujawinska و Tomasz Kozacki
فصل 4 Holographystatus و آینده (صفحات 95119): Ventsesslav Sainov and elenav Stoykova
فصل 5 رایانه ناسازگار؟ هولوگرافی تولید شده برای تصویربرداری و نمایش رنگ سه بعدی (صفحات 121134): Toyohiko Yatagai و Yusuke Sando
فصل 6 برای غلبه بر مشکل حل و فصل در هولوگرافی دیجیتال ناسازگار (صفحات 135161): Joseph Rosen ، Natan T. Shaked ، Barak Katz و Gary Brooker
فصل 7 مدیریت هولوگرام های دیجیتال و فرآیند بازسازی عددی برای انعطاف پذیری تمرکز (صفحات 163177): Melania Paturzo و Pietro Ferraro
فصل 8 کنترل ذرات ابعادی توسط مونویزرهای نوری هولگرافی (صفحات 179206): مایک وردمن ، کریستینا آلپمن و کرنلیا دنز
فصل 9 نقش حمایت از مالکیت معنوی در ایجاد تجارت در اندازه گیری های نوری (صفحات 207223): دکتر نادیا رینگند – فصل 10 در مورد تفاوت بین تصویربرداری سه بعدی و اندازه گیری سه بعدی برای توموگرافی کامپیوتری (صفحات 225238): دانیل وی؟ و مایکل توتزک
فصل 11 هولوگرافی انسجام: اصل و برنامه ها (صفحات 239253): میتسوو تاکتا ، وی وانگ و دینس N. Naik
فصل 12 میکروسکوپ نوری کمی در نانو: تحولات و مقایسه های جدید (صفحات 255282): Bernd Bodermann ، Egbert Buhr ، Zhi Li and Harald Bosse
فصل 13 مدل؟ اندازه گیری نوری مبتنی بر (صفحات 283304): Xavier Colonna de Lega
فصل 14 بازرسی MEMS پیشرفته توسط استراتژی های راه حل مستقیم و غیرمستقیم (صفحات 305326): Ryszard J. Pryputniewicz
فصل 15 روشهای مختلفی برای غلبه بر مشکل وضوح در اندازه گیری میکرو و نانو نوری (صفحات 327368): پروفسور دکتر ولفگانگ اوستن
فصل شانزدهم تداخل سنجی در محیط های سخت (صفحات 369391): جونیور آرماندو البرتازززی G.
فصل 17 روشهای پیشرفته برای آزمایش غیر مخرب نوری (صفحات 393412): Ralf B. Bergmann and Philipp Huke
فصل 18 به روزرسانی تداخل هولوگرافی برای استفاده از هولوگرافی صنعتی (صفحات 413437): Zoltaan Fuzessy ، Ferenc Gyimesi و و و ونکر
tag : دانلود کتاب تصویربرداری و اندازه گیری نوری: فن آوری های پیشرفته , Download تصویربرداری و اندازه گیری نوری: فن آوری های پیشرفته , دانلود تصویربرداری و اندازه گیری نوری: فن آوری های پیشرفته , Download Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies Book , تصویربرداری و اندازه گیری نوری: فن آوری های پیشرفته دانلود , buy تصویربرداری و اندازه گیری نوری: فن آوری های پیشرفته , خرید کتاب تصویربرداری و اندازه گیری نوری: فن آوری های پیشرفته , دانلود کتاب Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies , کتاب Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies , دانلود Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies , خرید Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies , خرید کتاب Optical Imaging and Metrology: Advanced Technologies ,
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.