توضیحات
The first edition of this book concentrated on relating scatter from optically smooth surfaces to the microroughness on those surfaces. After spending six years in the semiconductor industry, Dr. Stover has updated and expanded the third edition. Newly included are scatter models for pits and particles as well as the use of wafer scanners to locate and size isolated surface features. New sections cover the multimillion-dollar wafer scanner business, establishing that microroughness is the noise, not the signal, in these systems. Scatter measurements, now routinely used to determine whether small-surface features are pits or particles and inspiring new technology that provides information on particle material, are also discussed. These new capabilities are now supported by a series of international standards, and a new chapter reviews those documents.
New information on scatter from optically rough surfaces has also been added. Once the critical limit is exceeded, scatter cannot be used to determine surface-roughness statistics, but considerable information can still be obtained – especially when measurements are made on mass-produced products. Changes in measurement are covered, and the reader will find examples of scatter measurements made using a camera for a fraction of the cost and in a fraction of the time previously possible. The idea of relating scatter to surface appearance is also discussed, and appearance has its own short chapter. After all, beauty is in the eye of the beholder, and what we see is scattered light
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
چاپ اول این کتاب بر ارتباط پراکندگی از سطوح صاف نوری به ریز زبری روی آن سطوح متمرکز بود. دکتر استوور پس از گذراندن شش سال در صنعت نیمه هادی، نسخه سوم را به روز کرده و گسترش داده است. مدلهای پراکنده برای حفرهها و ذرات و همچنین استفاده از اسکنرهای ویفر برای مکانیابی و اندازهگذاری ویژگیهای سطح ایزوله بهتازگی ارائه شده است. بخشهای جدید کسبوکار اسکنر ویفر چند میلیون دلاری را پوشش میدهد و ثابت میکند که ریزخوشی نویز است، نه سیگنال، در این سیستمها. اندازهگیریهای پراکندگی، که اکنون به طور معمول برای تعیین اینکه آیا ویژگیهای سطح کوچک حفرهها یا ذرات هستند و فناوری جدیدی الهامبخش که اطلاعاتی در مورد مواد ذرات ارائه میدهد، استفاده میشود، نیز مورد بحث قرار میگیرد. این قابلیتهای جدید اکنون توسط یک سری استانداردهای بینالمللی پشتیبانی میشوند و فصل جدید آن اسناد را بررسی میکن
tag : دانلود کتاب پراکندگی نوری: اندازه گیری و تجزیه و تحلیل , Download پراکندگی نوری: اندازه گیری و تجزیه و تحلیل , دانلود پراکندگی نوری: اندازه گیری و تجزیه و تحلیل , Download Optical scattering : measurement and analysis Book , پراکندگی نوری: اندازه گیری و تجزیه و تحلیل دانلود , buy پراکندگی نوری: اندازه گیری و تجزیه و تحلیل , خرید کتاب پراکندگی نوری: اندازه گیری و تجزیه و تحلیل , دانلود کتاب Optical scattering : measurement and analysis , کتاب Optical scattering : measurement and analysis , دانلود Optical scattering : measurement and analysis , خرید Optical scattering : measurement and analysis , خرید کتاب Optical scattering : measurement and analysis ,
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.