توضیحات
Characterization enables a microscopic understanding of the fundamental properties of materials (Science) to predict their macroscopic behaviour (Engineering). With this focus, Principles of Materials Characterization and Metrology presents a comprehensive discussion of the principles of
materials characterization and metrology. Characterization techniques are introduced through elementary concepts of bonding, electronic structure of molecules and solids, and the arrangement of atoms in crystals. Then, the range of electrons, photons, ions, neutrons and scanning probes, used in
characterization, including their generation and related beam-solid interactions that determine or limit their use, is presented. This is followed by ion-scattering methods, optics, optical diffraction, microscopy, and ellipsometry. Generalization of Fraunhofer diffraction to scattering by a
three-dimensional arrangement of atoms in crystals leads to X-ray, electron, and neutron diffraction methods, both from surfaces and the bulk. Discussion of transmission and analytical electron microscopy, including recent developments, is followed by chapters on scanning electron microscopy and
scanning probe microscopies. The book concludes with elaborate tables to provide a convenient and easily accessible way of summarizing the key points, features, and inter-relatedness of the different spectroscopy, diffraction, and imaging techniques presented throughout.
Principles of Materials Characterization and Metrology uniquely combines a discussion of the physical principles and practical application of these characterization techniques to explain and illustrate the fundamental properties of a wide range of materials in a tool-based approach. Based on forty
years of teaching and research, this book incorporates worked examples, to test the reader’s knowledge with extensive questions and exercises.
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
خصوصیات درک میکروسکوپی از خواص اساسی مواد (علم) را قادر می سازد تا رفتار ماکروسکوپی آنها را پیش بینی کند (مهندسی). با این تمرکز، اصول مشخصه و اندازهشناسی مواد یک بحث جامع از اصول مشخصهشناسی مواد و اندازهشناسی ارائه میکند. تکنیکهای مشخصسازی از طریق مفاهیم اولیه پیوند، ساختار الکترونیکی مولکولها و جامدات و آرایش اتمها در کریستالها معرفی میشوند. سپس، محدوده الکترونها، فوتونها، یونها، نوترونها و کاوشگرهای روبشی، مورد استفاده در خصوصیات، از جمله تولید آنها و برهمکنشهای پرتو-جامد مرتبط که استفاده از آنها را تعیین یا محدود میکند، ارائه میشود. این روش با روش های پراکندگی یونی، اپتیک، پراش نوری، میکروسکوپ و بیضی سنجی دنبال می شود. تعمیم پراش فراونهوفر به پراکندگی توسط یک آرایش سه بعدی اتم ها در کریستال ها منجر به روش های پراش اشعه ایکس، الکترون و نوترون، هم از سطوح و هم از توده می شود. بحث در مورد میکروسکوپ الکترونی انتقالی و تحلیلی، از جمله پیشرفتهای اخیر، با فصلهایی در مورد میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروسکوپهای پروب روبشی دنبال میشود. این کتاب با جداول مفصل به پایان می رسد تا روشی راحت و در دسترس برای خلاصه کردن نکات کلیدی، ویژگی ها و ارتباط متقابل تکنیک های مختلف طیف سنجی، پراش و تصویربرداری ارائه شده در سراسر ارائه شود. اصول مشخصه و اندازهشناسی مواد بهطور منحصربهفردی بحثی درباره اصول فیزیکی
tag : دانلود کتاب اصول خصوصیات و اندازه شناسی مواد , Download اصول خصوصیات و اندازه شناسی مواد , دانلود اصول خصوصیات و اندازه شناسی مواد , Download Principles of Materials Characterization and Metrology Book , اصول خصوصیات و اندازه شناسی مواد دانلود , buy اصول خصوصیات و اندازه شناسی مواد , خرید کتاب اصول خصوصیات و اندازه شناسی مواد , دانلود کتاب Principles of Materials Characterization and Metrology , کتاب Principles of Materials Characterization and Metrology , دانلود Principles of Materials Characterization and Metrology , خرید Principles of Materials Characterization and Metrology , خرید کتاب Principles of Materials Characterization and Metrology ,
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.