توضیحات
Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices is a well-established and well-regarded reference work offering unique, single-source coverage of most major topics related to the performance and failure of materials used in electronic devices and electronics packaging. With a focus on statistically predicting failure and product yields, this book can help the design engineer, manufacturing engineer, and quality control engineer all better understand the common mechanisms that lead to electronics materials failures, including dielectric breakdown, hot-electron effects, and radiation damage. This new edition adds cutting-edge knowledge gained both in research labs and on the manufacturing floor, with new sections on plastics and other new packaging materials, new testing procedures, and new coverage of MEMS devices.
- Covers all major types of electronics materials degradation and their causes, including dielectric breakdown, hot-electron effects, electrostatic discharge, corrosion, and failure of contacts and solder joints
- New updated sections on ‘failure physics,’ on mass transport-induced failure in copper and low-k dielectrics, and on reliability of lead-free/reduced-lead solder connections
- New chapter on testing procedures, sample handling and sample selection, and experimental design
- Coverage of new packaging materials, including plastics and composites
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
قابلیت اطمینان و خرابی مواد و دستگاه های الکترونیکی یک کار مرجع معتبر و شناخته شده است که پوشش منحصر به فرد و تک منبعی اکثر موضوعات اصلی مرتبط با عملکرد و خرابی مواد مورد استفاده در دستگاه های الکترونیکی و بسته بندی لوازم الکترونیکی با تمرکز بر پیشبینی آماری خرابی و بازده محصول، این کتاب میتواند به مهندس طراح، مهندس ساخت و مهندس کنترل کیفیت کمک کند تا مکانیسمهای رایجی را که منجر به خرابی مواد الکترونیکی میشوند، از جمله شکست دیالکتریک، اثرات الکترون داغ، و تشعشع را بهتر درک کنند. خسارت. این نسخه جدید با بخشهای جدید در مورد پلاستیک و سایر مواد بستهبندی جدید، روشهای آزمایش جدید و پوشش جدید دستگاههای MEMS، دانش پیشرفتهای را که هم در آزمایشگاههای تحقیقاتی و هم در سطح تولید به دست میآید، اضافه میکند.
- تمام موارد اصلی را پوشش میدهد. انواع تخریب مواد الکترونیکی و علل آنها، از جمله شکست دی الکتریک، اثرات الکترون داغ، تخلیه الکترواستاتیکی، خوردگی، و خرابی کنتاکت ها و اتصالات لحیم کاری
- بخش های جدید به روز شده در “فیزیک شکست”، در مورد حمل و نقل انبوه- شکست ناشی از مس و دی الکتریک های کم پتاسیم و قابلیت اطمینان اتصالات لحیم کاری بدون سرب/سرب کاهش یافته
- فصل جدید در مورد روش های آزمایش، جابجایی نمونه و انتخاب نمونه، و طراحی آزمایشی
- li>پوشش مواد بسته بندی جدید از جمله پلاستیک و کامپوزیت
tag : دانلود کتاب قابلیت اطمینان و خرابی مواد و دستگاه های الکترونیکی، ویرایش دوم , Download قابلیت اطمینان و خرابی مواد و دستگاه های الکترونیکی، ویرایش دوم , دانلود قابلیت اطمینان و خرابی مواد و دستگاه های الکترونیکی، ویرایش دوم , Download Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices, Second Edition Book , قابلیت اطمینان و خرابی مواد و دستگاه های الکترونیکی، ویرایش دوم دانلود , buy قابلیت اطمینان و خرابی مواد و دستگاه های الکترونیکی، ویرایش دوم , خرید کتاب قابلیت اطمینان و خرابی مواد و دستگاه های الکترونیکی، ویرایش دوم , دانلود کتاب Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices, Second Edition , کتاب Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices, Second Edition , دانلود Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices, Second Edition , خرید Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices, Second Edition , خرید کتاب Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices, Second Edition ,
دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.