دانلود کتاب Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis – میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروآنالیز اشعه ایکس

توضیحات

This thoroughly revised and updated Fourth Edition of a time-honored text provides the reader with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM), energy dispersive X-ray spectrometry (EDS) for elemental microanalysis, electron backscatter diffraction analysis (EBSD) for micro-crystallography, and focused ion beams. Students and academic researchers will find the text to be an authoritative and scholarly resource, while SEM operators and a diversity of practitioners — engineers, technicians, physical and biological scientists, clinicians, and technical managers — will find that every chapter has been overhauled to meet the more practical needs of the technologist and working professional. In a break with the past, this Fourth Edition de-emphasizes the design and physical operating basis of the instrumentation, including the electron sources, lenses, detectors, etc. In the modern SEM, many of the low level instrument parameters are now controlled and optimized by the microscope’s software, and user access is restricted. Although the software control system provides efficient and reproducible microscopy and microanalysis, the user must understand the parameter space wherein choices are made to achieve effective and meaningful microscopy, microanalysis, and micro-crystallography. Therefore, special emphasis is placed on beam energy, beam current, electron detector characteristics and controls, and ancillary techniques such as energy dispersive x-ray spectrometry (EDS) and electron backscatter diffraction (EBSD).
With 13 years between the publication of the third and fourth editions, new coverage reflects the many improvements in the instrument and analysis techniques. The SEM has evolved into a powerful and versatile characterization platform in which morphology, elemental composition, and crystal structure can be evaluated simultaneously. Extension of the SEM into a ‘dual beam’ platform incorporating both electron and ion columns allows precision modification of the specimen by focused ion beam milling. New coverage in the Fourth Edition includes the increasing use of field emission guns and SEM instruments with high resolution capabilities, variable pressure SEM operation, theory, and measurement of x-rays with high throughput silicon drift detector (SDD-EDS) x-ray spectrometers. In addition to powerful vendor- supplied software to support data collection and processing, the microscopist can access advanced capabilities available in free, open source software platforms, including the National Institutes of Health (NIH) ImageJ-Fiji for image processing and the National Institute of Standards and Technology (NIST) DTSA II for quantitative EDS x-ray microanalysis and spectral simulation, both of which are extensively used in this work. However, the user has a responsibility to bring intellect, curiosity, and a proper skepticism to information on a computer screen and to the entire measurement process. This book helps you to achieve this goal.
Realigns the text with the needs of a diverse audience from researchers and graduate students to SEM operators and technical managers

Emphasizes practical, hands-on operation of the microscope, particularly user selection of the critical operating parameters to achieve meaningful results

Provides step-by-step overviews of SEM, EDS, and EBSD and checklists of critical issues for SEM imaging, EDS x-ray microanalysis, and EBSD crystallographic measurements

Makes extensive use of open source software: NIH ImageJ-FIJI for image processing and NIST DTSA II for quantitative EDS x-ray microanalysis and EDS spectral simulation.

Includes case studies to illustrate practical problem solving

Covers Helium ion scanning microscopy

Organized into relatively self-contained modules – no need to ‘read it all’ to understand a topic

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

این نسخه چهارم به‌طور کامل اصلاح‌شده و به‌روزرسانی‌شده یک متن قدیمی، مقدمه‌ای جامع در زمینه میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)، طیف‌سنجی پرتو ایکس پراکنده انرژی (EDS) برای میکروآنالیز عنصری، تجزیه و تحلیل پراش پراکندگی پس‌استرن (EBSD) در اختیار خواننده قرار می‌دهد. ) برای میکروکریستالوگرافی و پرتوهای یون متمرکز. دانشجویان و محققان دانشگاهی متن را منبعی معتبر و علمی می‌دانند، در حالی که اپراتورهای SEM و طیف وسیعی از پزشکان – مهندسان، تکنسین‌ها، دانشمندان فیزیکی و بیولوژیکی، پزشکان و مدیران فنی – متوجه خواهند شد که هر فصل بازنگری شده است. برای برآوردن نیازهای عملی تر تکنسین و متخصص کار. در گسست با گذشته، این نسخه چهارم بر اساس طراحی و عملکرد فیزیکی ابزار دقیق، از جمله منابع الکترونی، لنزها، آشکارسازها و غیره تاکید نمی‌کند. در SEM مدرن، بسیاری از پارامترهای ابزار سطح پایین اکنون کنترل می‌شوند و توسط نرم افزار میکروسکوپ بهینه شده و دسترسی کاربر محدود شده است. اگرچه سیستم کنترل نرم‌افزار میکروسکوپ و میکروآنالیز کارآمد و قابل تکرار را ارائه می‌کند، کاربر باید فضای پارامتری را که در آن انتخاب‌ها برای دستیابی به میکروسکوپ، ریزآنالیز و میکروکریستالوگرافی مؤثر و معنادار انجام می‌شود، درک کند. بنابراین، تأکید ویژه‌ای بر انرژی پرتو، جریان پرتو، ویژگی‌ها و کنترل‌های آشکارساز الکترون و تکنیک‌های جانبی مانند طیف‌سنجی پرتو ایکس پراکنده انرژی (EDS) و پراش پراکندگی برگشتی الکترون (EBSD) است.
با 13 سال بین انتشار نسخه های سوم و چهارم، پوشش جدید نشان دهنده پیشرفت های بسیاری در ابزار و تکنیک های تجزیه و تحلیل است. SEM به یک پلت فرم مشخصه قدرتمند و همه کاره تبدیل شده است که در آن مورفولوژی، ترکیب عنصری و ساختار کریستالی را می توان به طور همزمان ارزیابی کرد. گسترش SEM به یک پلت فرم “پرتو دوگانه” که دارای ستون های الکترونی و یونی است، امکان اصلاح دقیق نمونه را با آسیاب پرتو یون متمرکز می دهد. پوشش جدید در نسخه چهارم شامل استفاده روزافزون از تفنگ های انتشار میدانی و ابزارهای SEM با قابلیت تفکیک بالا، عملکرد SEM با فشار متغیر، تئوری و اندازه گیری اشعه ایکس با طیف سنج های اشعه ایکس با آشکارساز رانش سیلیکونی با توان عملیاتی بالا (SDD-EDS) است. . علاوه بر نرم‌افزار قدرتمند ارائه‌شده توسط فروشنده برای پشتیبانی از جمع‌آوری و پردازش داده‌ها، میکروسکوپیست می‌تواند به قابلیت‌های پیشرفته موجود در پلت‌فرم‌های نرم‌افزار متن‌باز رایگان، از جمله مؤسسه ملی بهداشت (NIH) ImageJ-Fiji برای پردازش تصویر و مؤسسه ملی استانداردها و فناوری (NIST) DTSA II برای میکروآنالیز کمی اشعه ایکس EDS و شبیه‌سازی طیفی، که هر دو به طور گسترده در این کار استفاده می‌شوند. با این حال، کاربر موظف است عقل، کنجکاوی و شک و تردید مناسب را نسبت به اطلاعات روی صفحه کامپیوتر و کل فرآیند اندازه‌گیری بیاورد. این کتاب به شما در دستیابی به این هدف کمک می کند.
متن را با نیازهای مخاطبان مختلف از پژوهشگران و دانشجویان فارغ التحصیل گرفته تا اپراتورهای SEM و مدیران فنی هماهنگ می کند

بر روی دست ها تأکید می کند. -در عملکرد میکروسکوپ، به ویژه انتخاب کاربر از پارامترهای عملیاتی حیاتی برای دستیابی به نتایج معنی دار

مروری گام به گام از SEM، EDS، و EBSD و چک لیست مسائل حیاتی را ارائه می دهد. برای تصویربرداری SEM، میکروآنالیز اشعه ایکس EDS، و اندازه‌گیری‌های کریستالوگرافی EBSD

از نرم‌افزار منبع باز استفاده گسترده‌ای می‌کند: NIH ImageJ-FIJI برای پردازش تصویر و NIST DTSA II برای کمی EDS x- میکروآنالیز پرتو و شبیه‌سازی طیفی EDS.

شامل مطالعات موردی برای نشان دادن حل مسئله عملی

میکروسکوپ روبشی یون هلیوم را پوشش می‌دهد

سازماندهی شده در ماژول های نسبتاً مستقل – برای درک یک موضوع نیازی به “خواندن همه” نیست

tag : دانلود کتاب میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروآنالیز اشعه ایکس , Download میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروآنالیز اشعه ایکس , دانلود میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروآنالیز اشعه ایکس , Download Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis Book , میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروآنالیز اشعه ایکس دانلود , buy میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروآنالیز اشعه ایکس , خرید کتاب میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروآنالیز اشعه ایکس , دانلود کتاب Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis , کتاب Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis , دانلود Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis , خرید Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis , خرید کتاب Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis ,