دانلود کتاب Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope – طیف سنجی انرژی الکترونی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی

دسته بندی : ,
اطلاعات کتاب
  • جلد
  • سری
  • ویرایش
  • سال 2020
  • نویسنده (گان) Anjam Khursheed
  • ناشر World Scientific Publishing
  • زبان English
  • تعداد صفحات
  • حجم فایل 17.23MB
  • فرمت فایل pdf
  • شابک 9811227020, 9789811227028
قیمت محصول :

45,000 تومان

با خرید این محصول، 2,250 تومان به کیف پول شما بازگشت داده می‌شود

روند خرید و دریافت کتاب‌ها بدون هیچ اختلالی انجام می‌شود.
تمامی فایل‌ها بر روی سرورهای داخلی میزبانی می‌شوند تا بتوانید به راحتی و در لحظه آن‌ها را دانلود کنید. در صورت بروز هرگونه مشکل یا نیاز به راهنمایی، لطفاً از طریق « صفحه تماس باما» با تیم پشتیبانی در ارتباط باشید.

تمامی کتاب های موجود در وبسایت سای وان به زبان انگلیسی میباشد

توضیحات

This book deals with the subject of secondary energy spectroscopy in the scanning electron microscope (SEM). The SEM is a widely used research instrument for scientific and engineering research and its low energy scattered electrons, known as secondary electrons, are used mainly for the purpose of nanoscale topographic imaging. This book demonstrates the advantages of carrying out precision electron energy spectroscopy of its secondary electrons, in addition to them being used for imaging. The book will demonstrate how secondary electron energy spectroscopy can transform the SEM into a powerful analytical tool that can map valuable material science information to the nanoscale, superimposing it onto the instrument’s normal topographic mode imaging. The book demonstrates how the SEM can then be used to quantify/identify materials, acquire bulk density of states information, capture dopant density distributions in semiconductor specimens, and map surface charge distributions.

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

این کتاب به موضوع طیف سنجی انرژی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) می پردازد. SEM یک ابزار تحقیقاتی پرکاربرد برای تحقیقات علمی و مهندسی است و الکترون‌های پراکنده کم انرژی آن که به عنوان الکترون‌های ثانویه شناخته می‌شوند، عمدتاً برای تصویربرداری توپوگرافی در مقیاس نانو استفاده می‌شوند. این کتاب مزایای انجام طیف‌سنجی انرژی الکترونی دقیق الکترون‌های ثانویه آن، علاوه بر استفاده از آنها برای تصویربرداری را نشان می‌دهد. این کتاب نشان خواهد داد که چگونه طیف‌سنجی انرژی الکترون ثانویه می‌تواند SEM را به یک ابزار تحلیلی قدرتمند تبدیل کند که می‌تواند اطلاعات ارزشمند علم مواد را در مقیاس نانو ترسیم کند و آن را بر روی تصویربرداری حالت توپوگرافی معمولی ابزار قرار دهد. این کتاب نشان می‌دهد که چگونه می‌توان از SEM برای تعیین کمیت/شناسایی مواد، به دست آوردن چگالی توده‌ای اطلاعات حالت‌ها، گرفتن توزیع‌های چگالی ناخالص در نمونه‌های نیمه‌رسانا، و نقشه‌برداری توزیع بار سطحی استفاده کرد.


 

tag : دانلود کتاب طیف سنجی انرژی الکترونی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی , Download طیف سنجی انرژی الکترونی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی , دانلود طیف سنجی انرژی الکترونی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی , Download Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope Book , طیف سنجی انرژی الکترونی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی دانلود , buy طیف سنجی انرژی الکترونی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی , خرید کتاب طیف سنجی انرژی الکترونی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی , دانلود کتاب Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope , کتاب Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope , دانلود Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope , خرید Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope , خرید کتاب Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope ,

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “دانلود کتاب Secondary Electron Energy Spectroscopy in the Scanning Electron Microscope – طیف سنجی انرژی الکترونی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی”