توضیحات
This book introduces the basic concepts necessary to understand Single Event phenomena which could cause random performance errors and catastrophic failures to electronics devices. As miniaturization of electronics components advances, electronics components are more susceptible in the radiation environment. The book includes a discussion of the radiation environments in space and in the atmosphere, radiation rate prediction depending on the orbit to allow electronics engineers to design and select radiation tolerant components and systems, and single event prediction.Content:
Chapter 1 Introduction (pages 112):
Chapter 2 Foundations of Single Event Analysis and Prediction (pages 1376):
Chapter 3 Optimizing Heavy Ion Experiments for Analysis (pages 77102):
Chapter 4 Optimizing Proton Testing (pages 103109):
Chapter 5 Data Qualification and Interpretation (pages 111164):
Chapter 6 Analysis of Various Types of SEU Data (pages 165250):
Chapter 7 Cosmic Ray Single Event Rate Calculations (pages 251303):
Chapter 8 Proton Single Event Rate Calculations (pages 305328):
Chapter 9 Neutron Induced Upset (pages 329336):
Chapter 10 Upsets Produced by Heavy Ion Nuclear Reactions (pages 337343):
Chapter 11 Samples of Heavy Ion Rate Prediction (pages 345370):
Chapter 12 Samples of Proton Rate Predictions (pages 371374):
Chapter 13 Combined Environments (pages 375387):
Chapter 14 Samples of Solar Events and Extreme Situations (pages 389393):
Chapter 15 Upset Rates in Neutral Particle Beam (NPB) Environments (pages 395400):
Chapter 16 Predictions and Observations of SEU Rates in Space (pages 401427):
Chapter 17 Limitations of the IRPP Approach (pages 429434):
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
این کتاب مفاهیم اساسی لازم برای درک پدیدههای یک رویداد را معرفی میکند که میتواند باعث خطاهای عملکرد تصادفی و خرابیهای فاجعهبار در دستگاههای الکترونیکی شود. با پیشرفت کوچک سازی اجزای الکترونیکی، قطعات الکترونیکی در محیط تشعشع حساس تر می شوند. این کتاب شامل بحثی در مورد محیطهای تابش در فضا و جو، پیشبینی نرخ تابش بسته به مدار است تا به مهندسان الکترونیک اجازه دهد تا اجزا و سیستمهای مقاوم در برابر تشعشع را طراحی و انتخاب کنند، و پیشبینی یک رویداد. محتوا:
فصل 1 مقدمه (صفحات 112):
فصل 2 مبانی تجزیه و تحلیل و پیشبینی رویداد منفرد (صفحههای 1376):
فصل 3 بهینهسازی آزمایشهای یون سنگین برای آنالیز (صفحات 77102):
فصل 4 بهینهسازی آزمایش پروتون (صفحههای 103109) :
فصل 5 صلاحیت و تفسیر داده ها (صفحات 111164):
فصل 6 تجزیه و تحلیل انواع مختلف داده های SEU (صفحات 165250):
فصل 7 محاسبات نرخ رویداد تک پرتو کیهانی (صفحات 251303):
فصل 8 محاسبات نرخ تک رویداد پروتون (صفحات 305328):
فصل 9 آشفتگی ناشی از نوترون (صفحه های 329336):
فصل 10 آشفتگی های تولید شده توسط واکنش های هسته ای یون سنگین (صفحات 337343 قسمت اول):
پیشبینی نرخ یون سنگین (صفحههای 345370):
فصل 12 نمونههایی از پیشبینیهای نرخ پروتون (صفحههای 371374):
فصل 13 محیطهای ترکیبی (صفحات 375387):
فصل 14 نمونههایی از رویدادهای خورشیدی 389393):
فصل 15 نرخهای آشفتگی در محیطهای پرتو ذرات خنثی (NPB) (صفحههای 395400):
فصل 16 پیشبینیها و مشاهدات نرخهای SEU در فضا (صفحات 401427):
فصل 17 IR LPP رویکرد (صفحات 429434):
tag : دانلود کتاب اثرات یک رویداد در هوافضا , Download اثرات یک رویداد در هوافضا , دانلود اثرات یک رویداد در هوافضا , Download Single Event Effects in Aerospace Book , اثرات یک رویداد در هوافضا دانلود , buy اثرات یک رویداد در هوافضا , خرید کتاب اثرات یک رویداد در هوافضا , دانلود کتاب Single Event Effects in Aerospace , کتاب Single Event Effects in Aerospace , دانلود Single Event Effects in Aerospace , خرید Single Event Effects in Aerospace , خرید کتاب Single Event Effects in Aerospace ,
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.