دانلود کتاب Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models – پیش‌بینی قابلیت اطمینان از برازش داده‌های Burn-In تا مدل‌های قابلیت اطمینان

دسته بندی :
اطلاعات کتاب
  • جلد
  • سری
  • ویرایش 1
  • سال 2014
  • نویسنده (گان) Joseph Bernstein (Auth.)
  • ناشر Academic Press
  • زبان English
  • تعداد صفحات
  • حجم فایل 2.25MB
  • فرمت فایل pdf
  • شابک 9780128007471
قیمت محصول :

45,000 تومان

با خرید این محصول، 2,250 تومان به کیف پول شما بازگشت داده می‌شود

روند خرید و دریافت کتاب‌ها بدون هیچ اختلالی انجام می‌شود.
تمامی فایل‌ها بر روی سرورهای داخلی میزبانی می‌شوند تا بتوانید به راحتی و در لحظه آن‌ها را دانلود کنید. در صورت بروز هرگونه مشکل یا نیاز به راهنمایی، لطفاً از طریق « صفحه تماس باما» با تیم پشتیبانی در ارتباط باشید.

تمامی کتاب های موجود در وبسایت سای وان به زبان انگلیسی میباشد

توضیحات

This work will educate chip and system designers on a method for accurately predicting circuit and system reliability in order to estimate failures that will occur in the field as a function of operating conditions at the chip level. This book will combine the knowledge taught in many reliability publications and illustrate how to use the knowledge presented by the semiconductor manufacturing companies in combination with the HTOL end-of-life testing that is currently performed by the chip suppliers as part of their standard qualification procedure and make accurate reliability predictions. This book will allow chip designers to predict FIT and DPPM values as a function of operating conditions and chip temperature so that users ultimately will have control of reliability in their design so the reliability and performance will be considered concurrently with their design.

. The ability to include reliability calculations and test results in their product design
. The ability to use reliability data provided to them by their suppliers to make meaningful reliability predictions
. Have accurate failure rate calculations for calculating warrantee period replacement costs

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

این کار به طراحان تراشه و سیستم در مورد روشی برای پیش‌بینی دقیق قابلیت اطمینان مدار و سیستم به منظور تخمین خرابی‌هایی که در این زمینه به عنوان تابعی از شرایط عملیاتی در سطح تراشه رخ می‌دهد، آموزش می‌دهد. این کتاب دانش آموزش داده شده در بسیاری از نشریات قابلیت اطمینان را ترکیب می کند و نحوه استفاده از دانش ارائه شده توسط شرکت های تولید کننده نیمه هادی را در ترکیب با آزمایش پایان عمر HTOL که


 

tag : دانلود کتاب پیش‌بینی قابلیت اطمینان از برازش داده‌های Burn-In تا مدل‌های قابلیت اطمینان , Download پیش‌بینی قابلیت اطمینان از برازش داده‌های Burn-In تا مدل‌های قابلیت اطمینان , دانلود پیش‌بینی قابلیت اطمینان از برازش داده‌های Burn-In تا مدل‌های قابلیت اطمینان , Download Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models Book , پیش‌بینی قابلیت اطمینان از برازش داده‌های Burn-In تا مدل‌های قابلیت اطمینان دانلود , buy پیش‌بینی قابلیت اطمینان از برازش داده‌های Burn-In تا مدل‌های قابلیت اطمینان , خرید کتاب پیش‌بینی قابلیت اطمینان از برازش داده‌های Burn-In تا مدل‌های قابلیت اطمینان , دانلود کتاب Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models , کتاب Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models , دانلود Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models , خرید Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models , خرید کتاب Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models ,

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “دانلود کتاب Reliability Prediction from Burn-In Data Fit to Reliability Models – پیش‌بینی قابلیت اطمینان از برازش داده‌های Burn-In تا مدل‌های قابلیت اطمینان”