توضیحات
This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of todays most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energy (become hot), interaction of an ensemble of colder and hotter carriers with defect precursors, which eventually leads to the creation of a defect, and a description of how these defects interact with the device, degrading its performance.
————————————————————–
ترجمه ماشینی :
این کتاب ابزارهای مختلفی را در اختیار خوانندگان قرار میدهد تا به چالشهای ناشی از تخریب حامل داغ، یکی از پیچیدهترین مسائل قابلیت اطمینان امروزی در دستگاههای نیمهرسانا رسیدگی کنند. پوشش شامل توضیحی در مورد حمل و نقل حامل در داخل دستگاه ها و حسابداری نحوه کسب انرژی (گرم شدن) آنها، تعامل مجموعه ای از حامل های سردتر و گرمتر با پیش سازهای نقص، که در نهایت منجر به ایجاد نقص می شود، و شرحی از چگونه این نقص ها با دستگاه تعامل دارند و عملکرد آن را کاهش می دهند.
tag : دانلود کتاب تخریب حامل داغ در دستگاه های نیمه هادی , Download تخریب حامل داغ در دستگاه های نیمه هادی , دانلود تخریب حامل داغ در دستگاه های نیمه هادی , Download Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices Book , تخریب حامل داغ در دستگاه های نیمه هادی دانلود , buy تخریب حامل داغ در دستگاه های نیمه هادی , خرید کتاب تخریب حامل داغ در دستگاه های نیمه هادی , دانلود کتاب Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices , کتاب Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices , دانلود Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices , خرید Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices , خرید کتاب Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices ,
نقد و بررسیها
هنوز بررسیای ثبت نشده است.