دانلود کتاب Introduction to Metrology Applications in IC Manufacturing – مقدمه ای بر کاربردهای مترولوژی در تولید آی سی

دسته بندی :
اطلاعات کتاب
  • جلد
  • سری Tutorial Texts
  • ویرایش 1
  • سال 2015
  • نویسنده (گان) Bo Su, Eric Solecky, Alok Vaid, James A. Harrington (editor)
  • ناشر SPIE Press
  • زبان English
  • تعداد صفحات
  • حجم فایل 28.42MB
  • فرمت فایل pdf
  • شابک 1628418117, 9781628418118
قیمت محصول :

45,000 تومان

با خرید این محصول، 2,250 تومان به کیف پول شما بازگشت داده می‌شود

روند خرید و دریافت کتاب‌ها بدون هیچ اختلالی انجام می‌شود.
تمامی فایل‌ها بر روی سرورهای داخلی میزبانی می‌شوند تا بتوانید به راحتی و در لحظه آن‌ها را دانلود کنید. در صورت بروز هرگونه مشکل یا نیاز به راهنمایی، لطفاً از طریق « صفحه تماس باما» با تیم پشتیبانی در ارتباط باشید.

تمامی کتاب های موجود در وبسایت سای وان به زبان انگلیسی میباشد

توضیحات

Metrology has grown significantly, especially in semiconductor manufacturing, and such growth necessitates increased expertise. Until now, this field has never had a book written from the perspective of an engineer in a modern IC manufacturing and development environment. The topics in this Tutorial Text range from metrology at its most basic level to future predictions and challenges, including measurement methods, industrial applications, fundamentals of traditional measurement system characterization and calibration, semiconductor-specific applications, optical metrology measurement techniques, charged particle measurement techniques, x-ray and in situ metrology, hybrid metrology, and mask making. The accompanying CD includes example spreadsheets of measurement uncertainty analysis specifically, precision, matching, and relative accuracy.

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

اندازه‌شناسی به‌ویژه در تولید نیمه‌رساناها رشد چشمگیری داشته است و چنین رشدی مستلزم افزایش تخصص است. تا به حال، این رشته هرگز کتابی از دیدگاه یک مهندس در محیط ساخت و توسعه آی سی مدرن نوشته نشده است. موضوعات موجود در این متن آموزشی از اندازه‌شناسی در ابتدایی‌ترین سطح آن تا پیش‌بینی‌ها و چالش‌های آینده، از جمله روش‌های اندازه‌گیری، کاربردهای صنعتی، مبانی خصوصیات و کالیبراسیون سیستم‌های اندازه‌گیری سنتی، کاربردهای خاص نیمه‌رسانا، تکنیک‌های اندازه‌گیری مترولوژی نوری، تکنیک‌های اندازه‌گیری ذرات باردار را شامل می‌شود. ، اندازه شناسی اشعه ایکس و درجا، مترولوژی ترکیبی و ساخت ماسک. CD همراه شامل صفحات گسترده نمونه ای از تجزیه و تحلیل عدم قطعیت اندازه گیری به طور خاص، دقت، تطبیق، و دقت نسبی است.


 

tag : دانلود کتاب مقدمه ای بر کاربردهای مترولوژی در تولید آی سی , Download مقدمه ای بر کاربردهای مترولوژی در تولید آی سی , دانلود مقدمه ای بر کاربردهای مترولوژی در تولید آی سی , Download Introduction to Metrology Applications in IC Manufacturing Book , مقدمه ای بر کاربردهای مترولوژی در تولید آی سی دانلود , buy مقدمه ای بر کاربردهای مترولوژی در تولید آی سی , خرید کتاب مقدمه ای بر کاربردهای مترولوژی در تولید آی سی , دانلود کتاب Introduction to Metrology Applications in IC Manufacturing , کتاب Introduction to Metrology Applications in IC Manufacturing , دانلود Introduction to Metrology Applications in IC Manufacturing , خرید Introduction to Metrology Applications in IC Manufacturing , خرید کتاب Introduction to Metrology Applications in IC Manufacturing ,

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “دانلود کتاب Introduction to Metrology Applications in IC Manufacturing – مقدمه ای بر کاربردهای مترولوژی در تولید آی سی”