دانلود کتاب RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors – RF و تکنیک‌های حوزه زمان برای ارزیابی ترانزیستورهای نیمه هادی جدید

دسته بندی :
اطلاعات کتاب
  • جلد
  • سری
  • ویرایش
  • سال 2021
  • نویسنده (گان) Keith A. Jenkins
  • ناشر Springer
  • زبان English
  • تعداد صفحات
  • حجم فایل 4.76MB
  • فرمت فایل pdf
  • شابک 303077774X, 9783030777746
قیمت محصول :

45,000 تومان

با خرید این محصول، 2,250 تومان به کیف پول شما بازگشت داده می‌شود

روند خرید و دریافت کتاب‌ها بدون هیچ اختلالی انجام می‌شود.
تمامی فایل‌ها بر روی سرورهای داخلی میزبانی می‌شوند تا بتوانید به راحتی و در لحظه آن‌ها را دانلود کنید. در صورت بروز هرگونه مشکل یا نیاز به راهنمایی، لطفاً از طریق « صفحه تماس باما» با تیم پشتیبانی در ارتباط باشید.

تمامی کتاب های موجود در وبسایت سای وان به زبان انگلیسی میباشد

توضیحات

This book presents a variety of techniques using high-frequency (RF) and time-domain measurements to understand the electrical performance of novel, modern transistors made of materials such as graphene, carbon nanotubes, and silicon-on-insulator, and using new transistor structures. The author explains how to use conventional RF and time- domain measurements to characterize the performance of the transistors. In addition, he explains how novel transistors may be subject to effects such as self-heating, period-dependent output, non-linearity, susceptibility to short-term degradation, DC-invisible structural defects, and a different response to DC and transient inputs. Readers will understand that in order to fully understand and characterize the behavior of a novel transistor, there is an arsenal of dynamic techniques available. In addition to abstract concepts, the reader will learn of practical tips required to achieve meaningful measurements, and will understand the relationship between these measurements and traditional, conventional DC characteristics.

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

این کتاب تکنیک‌های مختلفی را با استفاده از اندازه‌گیری‌های فرکانس بالا (RF) و حوزه زمان برای درک عملکرد الکتریکی ترانزیستورهای جدید و مدرن ساخته‌شده از موادی مانند گرافن، نانولوله‌های کربنی و سیلیکون روی عایق ارائه می‌کند. با استفاده از ساختارهای ترانزیستوری جدید نویسنده نحوه استفاده از RF معمولی و اندازه‌گیری‌های حوزه زمان را برای توصیف عملکرد ترانزیستورها توضیح می‌دهد. علاوه بر این، او توضیح می‌دهد که چگونه ترانزیستورهای جدید ممکن است در معرض اثراتی مانند خود گرم شدن، خروجی وابسته به دوره، غیرخطی بودن، حساسیت به تخریب کوتاه‌مدت، نقص‌های ساختاری نامرئی DC، و پاسخ متفاوت به ورودی‌های DC و گذرا باشند. . خوانندگان متوجه خواهند شد که برای درک کامل و توصیف رفتار یک ترانزیستور جدید، زرادخانه ای از تکنیک های پویا در دسترس است. علاوه بر مفاهیم انتزاعی، خواننده نکات عملی مورد نیاز برای دستیابی به اندازه‌گیری‌های معنادار را یاد می‌گیرد و رابطه بین این اندازه‌گیری‌ها و ویژگی‌های سنتی و مرسوم DC را درک می‌کند.


 

tag : دانلود کتاب RF و تکنیک‌های حوزه زمان برای ارزیابی ترانزیستورهای نیمه هادی جدید , Download RF و تکنیک‌های حوزه زمان برای ارزیابی ترانزیستورهای نیمه هادی جدید , دانلود RF و تکنیک‌های حوزه زمان برای ارزیابی ترانزیستورهای نیمه هادی جدید , Download RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors Book , RF و تکنیک‌های حوزه زمان برای ارزیابی ترانزیستورهای نیمه هادی جدید دانلود , buy RF و تکنیک‌های حوزه زمان برای ارزیابی ترانزیستورهای نیمه هادی جدید , خرید کتاب RF و تکنیک‌های حوزه زمان برای ارزیابی ترانزیستورهای نیمه هادی جدید , دانلود کتاب RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors , کتاب RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors , دانلود RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors , خرید RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors , خرید کتاب RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors ,

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “دانلود کتاب RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors – RF و تکنیک‌های حوزه زمان برای ارزیابی ترانزیستورهای نیمه هادی جدید”