دانلود کتاب Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization – طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح

دسته بندی :
اطلاعات کتاب
  • جلد
  • سری Materials characterization and analysis collection
  • ویرایش
  • سال 2016
  • نویسنده (گان) Fred Stevie
  • ناشر Momentum Press
  • زبان English
  • تعداد صفحات 290
  • حجم فایل 43.78MB
  • فرمت فایل pdf
  • شابک 1606505882, 9781606505885, 9781606505892
قیمت محصول :

45,000 تومان

با خرید این محصول، 2,250 تومان به کیف پول شما بازگشت داده می‌شود

روند خرید و دریافت کتاب‌ها بدون هیچ اختلالی انجام می‌شود.
تمامی فایل‌ها بر روی سرورهای داخلی میزبانی می‌شوند تا بتوانید به راحتی و در لحظه آن‌ها را دانلود کنید. در صورت بروز هرگونه مشکل یا نیاز به راهنمایی، لطفاً از طریق « صفحه تماس باما» با تیم پشتیبانی در ارتباط باشید.

تمامی کتاب های موجود در وبسایت سای وان به زبان انگلیسی میباشد

توضیحات

This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained. It also will serve as a reference for those who need to provide SIMS data. The book has over 200 figures and the references allow one to trace development of SIMS and understand the many details of the technique

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

این کتاب برای توضیح تکنیکی نوشته شده است که نیازمند درک بسیاری از جزئیات برای به دست آوردن و تفسیر صحیح داده های به دست آمده است. همچنین به عنوان یک مرجع برای کسانی که نیاز به ارائه داده های SIMS دارند عمل می کند. این کتاب دارای بیش از 200 شکل است و منابع به شما امکان می دهد توسعه SIMS را ردیابی کنید و جزئیات بسیاری از این تکنیک را درک کنید.


 

tag : دانلود کتاب طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح , Download طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح , دانلود طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح , Download Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization Book , طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح دانلود , buy طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح , خرید کتاب طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح , دانلود کتاب Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization , کتاب Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization , دانلود Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization , خرید Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization , خرید کتاب Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization ,

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “دانلود کتاب Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization – طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح”