دانلود کتاب Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits – تست و تست سطح ویفر در حین سوختن برای مدارهای مجتمع

اطلاعات کتاب
  • جلد
  • سری Integrated Mircosystems
  • ویرایش 1
  • سال 2010
  • نویسنده (گان) Sudarshan Bahukudumbi, Krishnendu Chakrabarty
  • ناشر Artech House Publishers
  • زبان English
  • تعداد صفحات
  • حجم فایل 2.94MB
  • فرمت فایل pdf
  • شابک 1596939893, 9781596939899
قیمت محصول :

۴۵,۰۰۰ تومان

با خرید این محصول، ۲,۲۵۰ تومان به کیف پول شما بازگشت داده می‌شود

روند خرید و دریافت کتاب‌ها بدون هیچ اختلالی انجام می‌شود.
تمامی فایل‌ها بر روی سرورهای داخلی میزبانی می‌شوند تا بتوانید به راحتی و در لحظه آن‌ها را دانلود کنید. در صورت بروز هرگونه مشکل یا نیاز به راهنمایی، لطفاً از طریق « صفحه تماس باما» با تیم پشتیبانی در ارتباط باشید.

تمامی کتاب های موجود در وبسایت سای وان به زبان انگلیسی میباشد

پیشنهادهای مرتبط

توضیحات

N

————————————————————–

ترجمه ماشینی :

N


 

tag : دانلود کتاب تست و تست سطح ویفر در حین سوختن برای مدارهای مجتمع , Download تست و تست سطح ویفر در حین سوختن برای مدارهای مجتمع , دانلود تست و تست سطح ویفر در حین سوختن برای مدارهای مجتمع , Download Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits Book , تست و تست سطح ویفر در حین سوختن برای مدارهای مجتمع دانلود , buy تست و تست سطح ویفر در حین سوختن برای مدارهای مجتمع , خرید کتاب تست و تست سطح ویفر در حین سوختن برای مدارهای مجتمع , دانلود کتاب Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits , کتاب Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits , دانلود Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits , خرید Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits , خرید کتاب Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits ,

دیدگاهها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین نفری باشید که دیدگاهی را ارسال می کنید برای “دانلود کتاب Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits – تست و تست سطح ویفر در حین سوختن برای مدارهای مجتمع”